基于微xrf的薄金属涂层空间分辨层厚分析
按需会话- 60分钟
金属涂层的显微xrf分析
对于在生产过程中应用各种涂层的制造商来说，全面了解涂层厚度和沉积膜的组成是至关重要的。布鲁克的空间解析分布分析能力M4龙卷风Micro-XRF光谱仪和XMethod涂层分析软件可以分析点测的涂层成分和层厚，以及涂层区域分布图。
本次网络研讨会将讨论在XMethod中创建层模型，并使用M4 TORNADO应用这种分析方法。重点是不同基材上的金属涂层和不同的应用，如印刷电路板(PCB)上铜上的Au/Pd/Ni和玻璃上的金属涂层。将对校准标准的结果进行比较，以证明精度和再现性。
网络研讨会将以15分钟的问答环节结束，我们的专家将回答您的问题。
谁应该参加?
- 质量控制专家，确保薄金属涂层的厚度和组成在电子工业
- 涂装质量控制技术人员负责pcb涂装服务的质量保证和故障分析
- 研发人员
Sn, Br, Au, Bi, Cu, Ni和Si在PCB(内存模块)上的元素分布
al - cu合金在玻璃基板上的成分(左)和分析厚度(右)的空间分布
