力量纳米分析提出:

M4龙卷风+ micro-XRF——一个新的时代

点播会话- 60分钟

材料分析与M4龙卷风微x射线荧光

力量邀请你去了解M4龙卷风+,最新的成员证明,市场领先的家庭M4龙卷风Micro-XRF分析仪。

微x射线荧光是一种通用的材料分析技术广泛的样本的大小、形状或组合。M4龙卷风+提供了一些新颖的特点,提高应用程序的典型Micro-XRF字段对地球科学和采矿、生物学、高分子研究或半导体行业等等。

使用超级光探测器入口窗户和一个优化的x射线管,M4龙卷风+扩展了可检测的元素通常范围从钠/镁碳。与氟、氧和氮,以及3 d的L-lines过渡金属(Ti-Zn),可为micro-XRF分析。

另一个关键特性是完全软件控制准直器改变第二x光管,使选择4种不同的现货大小重元素的分析。准直器可以设置为点大小的0.5毫米,1毫米,2毫米,4.5毫米,因此适应截然不同的分析挑战。

通过引入一个可选的计算机控制He-purge系统,甚至湿样品现在可以在长时间的测量。它还允许光元素检测样本中不应暴露在低压力。氦氧气氛下仪器的灵敏度及以上2 mbar环境的相似。

非常不均匀的样品景深可以使用小说孔径增加了管理系统(AMS),它允许现货大小不到他们平常的一半大小的测量4毫米的焦点。

所有这些新特性将住了我们的应用程序专家,谁会很乐意回答你所有的问题在问答环节。

高度三维晶体样品,测量与AMS -高景深
新鲜的草莓,分析在几个小时他大气,不干燥。

谁应该参加?

任何人使用Micro-XRF技术或那些想要将这个方法纳入研究。

演讲者

马克斯Buegler博士

应用科学家Micro-XRF力量纳米分析

福尔克莱因哈特

高级应用科学家micro-XRF力量纳米分析

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