Brukernano分析介绍

快速识别并源出手持XRF食品中发现外国物料污染物

即时会议-55分钟

手持XRF非损耗分析食品质量控制

制造商不想要产品中发现的物理污染物,但它会发生高成本省值时,可减少识别物理污染物并定位源的时间越快识别它并判定它是否出故障设备、启动素材或甚至是虚报,你就能越快重发生产

掌上型机 XRF多元素分析技术快速非损耗直截面使用并可在任何地方测试帮助生产维护安全QA/QC快速识别并源出制造食品中发现的外国物料污染物

webinar解释手持XRF技术并举实例说明食物中发现的金属污染物快速易辨网站还提供光谱指纹匹配使用方面的最佳做法,包括创建食品接触物指纹生产楼库,面向各种样本类型和更复杂环境

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手持XRF快速识别并源出人工食品中发现的外国物质污染物

BrukerS1手持XRF光谱仪快速、非损耗性直达使用并可在任何地方测试

金伯利 Russell

食品安全、农业环境市场段管理员Bruker Nano分析

安德鲁李

应用科学家Bruker Nano分析

EsaNummi

产品管理主任Bruker Nano分析