eFlash FS
Der neue EBSD-Detektor eFlash FS wurde für maximale Empfindlichkeit entwickelt, um Hochgeschwindigkeits-EBSD-Messungen ohne Beeinträchtigung Der Datenqualität zu ermöglichen - selbst bei anspruchsvollen Anwendungen wie verformten oder leichten Materialien。Zur Steigerung der Pattern-Qualität wurde das Kühlsystem des eFlash FS verbessert，嗯die arbeitstematur und damit den Dunkelstrom der CCD-Kamera so weit wie möglich zu senken。
Im Vergleich zum Vorgängermodell eFlash 1000帽der neue eFlash FS检测器eine um den Faktor 3 verbesserte Empfindlichkeit und einen um den Faktor 4 geringeren Dunkelstrom。Damit ist er die best Wahl für alle " hgh -basierten " EBSD-Anwendungen。Die enorme Verbesserung der Kameraempfindlichkeit in Kombination mit einem hocheffizienten hochgeschwindigkeits - phospschirm machen den eFlash FS检测器zur idealen Lösung für dynamische实验wie原位Aufheizung和原位Zug- und压缩试验。
Auch die 3D EBSD profitiert von den Geschwindigkeits und Empfindlichkeitsfähigkeiten des neuen eFlash FS检测器。
Ein 400 x 300像素großes Map kann在2分钟10秒erfast werden。Das bedeutet, dass die Datenerfassung eines 3D-EBSD-Datenwürfels mit 70 Schnitten (8,4 Mio。体素)nur 2,5 h dauert。
塞纳河她vorrken Empfindlichkeit macht den neuen eFlash FS检测器zur perfekten Lösung für Niedrig-kV-EBSD-Anwendungen und transmission - kikuki - beugung (TKD) im REM, auch bekannt als transmission - ebsd (t-EBSD)。Mit dem eFlash FS检测器，der Mit dem einzigartigen OPTIMUS™tdk - detektorkopf nachgerüstet werden kann, lassen sich Orientierungs-Maps Mit Geschwindigkeiten von bis zu 630 Bildern pro Sekunde (fps) und einer effektiven räumlichen Auflösung von mindestens 2 nm erfassen。
mittypischen Messzeiten von nur wenigen Minuten pro Map带来die On-Axis TKD nicht nur eine bemerkenswerte Effizienzsteigerung ohne Beeinträchtigung der Datenqualität, sondern minimiert auch Artefakte, die durch Strahlinstabilitäten工业werden。
Der eFlash FS ist dem ARGUS™Bildgebungssystem mit vorwärtsgestreuten (FSE)和rückgestreuten (BSE) Elektronen erhältlich。Dies erhöht die vielsetigkeit des探测器和liefert wertvolle Zusatzinformationen für eine aussagekräftige und effiziente Mikrostrukturcharakterisierung。
