XFlash 6 t-60
Der SDD麻省理工学院großerer aktiver基地,皮毛TEM-Analytik im nm-Bereich darunter
Der XFlash 6 t-60 Detektor
Der海尔verwendete SDD mittlerer Große,麻省理工学院静脉aktiven基地,冯60毫米2,der einem款超薄的线性Detektorfinger montiert坚持,ermoglicht贝passender Geometrie杯großeren Raumwinkel als der 30毫米2-Detektor,和u.U.也是im Vergleich zum 100毫米2-Detektor,和达斯贝weiterhin hohem Abnahmewinkel。Der XFlash®6 t | 60是insbesondere毛皮Messungen麻省理工学院geringe Rontgenausbeute geeignet。所以如毛皮Spektrometrie麻省理工学院atomarer Auflosung奥得河Experimente,贝denen一张Zonenachse eingehalten了混乱和死亡调查哒不zum Detektor gekippt了萤石,和毛皮empfindliche Proben(复合神经节,biologische Proben,安德利果汁C-haltige,是不是z.B Graphen)。麻省理工学院126 eV贝Mn-Kαbietet der Detektor一张sehr祝Energieauflosung。
Zusammenfassend bietet der XFlash®6 t-60 folgende Vorteile:
- Sehr祝Energieauflosung (126 eV贝Mn-Kα,51 eV贝C-Kα和60 eV贝F-Kαerhaltlich)
- Weitere lieferbare Auflosung: 129 eV贝Mn-Kα
- Verarbeitung hoh Zahlraten, hohe Impulsbelastbarkeit
- Ausgezeichnete Leichtelement和Niedrigenergie-Performance (Gesamtdetektionsbereich: - Am)
- Geschweißter Faltenbalg毛皮Vakuumtauglichkeit
- Vibrationsfreie Detektorkuhlung
- Betriebsbereit sofort民主党Einschalten票
- Wartungsfreier Betrieb
- Niedrige Betriebskosten
- Kleine Abmessungen, Detektorfinger im款超薄的线性设计
- Geringes重量
- Fensterlose版本Anfrage汪汪汪
Empfohlene Einsatzgebiete毛皮窝XFlash®6 t-60信德:
- 阿莱Varianten冯EDS-Analytik TEM,茎和T-SEM(干im REM), einschließlich aberrationskorrigierter Elektronenmikroskopie