QUANTAX ED-XS
科学•莱克特说gemacht
Zuverlassiges和gunstiges EBSD
欧什毛皮REM-Tischgerate erhaltlich
突出了
Volle
Analytische Leistung
Deckt mehr als 95% der moglichen Anwendungsfalle ab
死eFlash XS和XFlash 630 Detektoren信德vollstandig在精灵软件integriert死去。
Niedrige
Einstiegskosten
EBSD麻省理工学院geringem Platzbedarf kostengunstigen REM
Der eFlash XS EBSD Detektor萤石麻省理工学院geringem Platzbedarf一个preisgunstigen雷姆installiert了,ohne dass es unzumutbar贵的将。
Niedrige
Betriebskosten
Geringe Ausfallwahrscheinlichkeit和Ausfallzeiten
Der eFlash XS将麻省理工学院静脉hochzuverlassigen CMOS-Kamera betrieben。Im sehr unwahrscheinlichen Ausfall der Kamera将der eFlash XS Detektor innerhalb wenig为主的军队静脉伏尔支持ersetzbares Gerat ausgetauscht。
科学•莱克特说gemacht
QUANTAX ED-XS是静脉新系统,韦尔奇窝neuen einzigartigeneFlash XSEBSD Detektor麻省民主党zuverlassigenXFlash®在der EDS-Detektor vielseitigen思捷环球软件kombiniert。这张Kombination来自硬件和软件是静脉诺伊尔拟设苏珥Bereitstellung leistungsstarker Analysetools毛皮一张großere Mikroskopie-Community,死bisher keine EBSD-Funktionen nutzen德国。Vorteile信德:
- Niedrigere Anfangsinvestitionskosten
- Sehr geringe Ausfallzeiten: Vor-Ort-Detektorersatz innerhalb wenig为主
- Gunstige Servicevertragsoptionen
- Einfach祖茂堂bedienende EBSD: keine Kalibrierung erforderlich和军队窝打工天天austauschbarer Phosphorschirm
- Sicherer Betrieb:贝Nichtgebrauch besteht keine Gefahr静脉versehentlichen Kollision麻省民主党Probentisch奥得河anderen Instrumenten der REM-Kammer
Vorteile
为什么benotige我EBSD的meinem REM-Tischgerat吗?
- Halbautomatische Korngroßen——和Formverteilungsanalyse
- 定量分析冯Mikrostrukturen Teilbereichen
- Bestimmung des Flachen -奥得河Volumenanteils冯verformten奥得河rekristallisierten Kornern
- Korngrenzenanalyse
- Phasenidentifikation和Phasenverteilungsanalyse
- Korrelation chemischer和kristallographischer Ergebnisse
- Orientierungsverteilungsanalyse——kristallographische Texturanalyse
