QUANTAX EDS SEM
XFlash®7 -新的EDS探测器系列
更好分析的正确角度
快。精确。可靠的。
突出了
1000000年
cps
真正的分析吞吐量可达1,000,000 cps
达到无与伦比的分析速度
> 2200
元素的行
使用最全面的原子数据库包括K, L, M和N行量化最复杂的数据
> 1.1
老
x射线收集的最大立体角
最大化您的样品吞吐量与最佳几何最有效的收集生成的x射线
SEM, FIB-SEM和EPMA的能量色散光谱分析
- 布鲁克的最新一代QUANTAX EDS具有XFlash功能®7 .检测器系列，其中提供最大实心角用于x射线的收集(也称为收集角)和最高的吞吐量．
- 的XFlash®7 .继续制定标准性能和功能用于扫描电子显微镜(SEM)、聚焦离子束(FIB-SEM)和电子探针微分析仪(EPMA)的能量色散光谱分析。
- 的XFlash®7探测器系列还为TEM和SEM中电子透明样品的EDS分析提供了优化的解决方案，以及独特的XFlash®FlatQUAD探测器，用于回答您对具有挑战性的样品的问题。
- 细线技术，大采集角设计，最新一代脉冲处理，最大化系统正常运行时间通过预测性维护。
- 最高的光谱性能获得最佳能量分辨率。
- 提高结果的准确性通过复杂的量化算法和独特的非标准和基于标准的方法的组合。
Vorteile
让你的元素分析更有效!
- 通过单独优化的EDS系统，更快地获得非常精确的结果。它保证了无与伦比的速度和精度。
- 以最大的吞吐量缩短测量时间，支持在所有设置下映射和量化，而不限制数据大小。
- 现在分析具有挑战性的样品，这要感谢生成x射线的最有效的几何集合。
- 受益于精确可靠的定量结果与优化的几何减少背景和避免吸收。
- 检测量小，检出限好，本底低，吸收小。
- 一刀切——将EDS、WDS、EBSD、Micro-XRF无缝集成于一体思捷环球任何SEM, FIB-SEM和EPMA分析平台。
