地幔岩石学与钻石来源

这里展示的是一幅地幔石榴石尖晶石橄榄岩的SEM-XRF元素图，它来自含金刚石的纽兰兹金伯利岩(南非，卡普瓦尔克拉通)。各种元素的强度表明样品中存在某些矿物;例如Ca(绿)-斜辉石;铬(蓝)-铬铁矿;Al(黄色)-石榴石，K(橙色)为交代。对薄片进行了分析扫描电镜上的MicroXRF。样品约为3厘米× 2厘米，并作为单个框架进行分析。每个像素的全光谱允许进一步的离线处理，例如添加元素，从地图中提取光谱，地图的量化或自动相位。

微量xrf数据具有识别样品中高能x射线线和微量元素的优点。micro-XRF是一个小的斑点分析(大约35微米)，尽管比电子束大。相互作用体积比电子束大得多，并且与元件和样品矩阵有关。因此，二维元素图可能产生电子束和x射线生成图之间的差异。较低的光谱背景可以检测到电子束无法检测到的微量元素。样品制备要求不同;例如，没有充电效应，因此没有样品涂层。此外，由于信息深度，不需要高质量的抛光。此外，一个粗糙的样品，只要它有一个平面，就可以分析。量化可以是无标准的，也可以是基于标准的。