Das Blendenmanagement(孔径管理系统- AMS)
定性分析topografischer Proben
静脉wesentlicher Vorteil der Mikro-RFA信德死minimalen Anforderungen Probenvorbereitung死去。Dennoch吵架一张Untersuchungsebene毛皮死Messungen definiert了。有Proben信德不perfekt平面和您能不verandert了(z。b . wichtige historische Museumsstucke)。贝der qualitativen分析(z。b .映射奥得河Linenprofile)冯topografischen Proben了Teile der Oberflache außerhalb der Fokusebene liegen。Das Blendenmanagement AMS dient der Erhohung Scharfentiefe。Genau是不是贝der optischen Bildgebung -河口来自ganz anderen Grunden——erhoht一张闪锌矿伏尔der林斯Scharfentiefe死去。该死的呆欧什贝Proben麻省理工学院(hoh Topografie死meisten Strukturen scharf, d·h·innerhalb Fokusebene。
Skizze des Funktionsprinzips冯AMS。Indem努尔死innersten Kapillaren Rontgenstrahlen durchlassen,将死Divergenz des strahl verringert和死Tiefenscharfe erhoht。
静脉Smaragdkristall来自Brasilien。死Kristalle有杯Durchmesser冯> 1厘米。死Fokusebene liegt im oberen Drittel des obersten Kristalls。有Ohne AMS信德Teile des Kristalls außerhalb der Fokusebene该死unscharf。
Ohne Anderung der Probenposition das麻省民主党AMS neu erstellt地图。死Scharfentiefe是erhoht和der großte菩提树der探针erscheint现在scharf。
