平面电流隧道(CIPT)

的电流面内隧道(CIPT)方法通过在样品顶部放置探针来表征隧道结的性质。这些非侵入性测量极大地加快了开发和测试，由于微型探针间距，这些测量可用于均匀性控制和参数表征。

CIPT探针是最先进的MEMS器件，由12个直列金属覆盖的探针手指(电极)组成，每个探针手指只有几微米长，亚微米宽。这些探针的非常小的规模允许非常温和的接触，使它们成为局部(微尺度)电测量的理想选择。

探头范围

四种不同类型的探针可用(平均间距从0.75 μ m到59 μ m)。根据您的要求，我们可以设计出符合您具体实验要求的探针。所有CIPT探头也可在一个陶瓷载体，适合Capres工具。

你最喜欢的探针

请与我们联系您的测量要求，我们将很乐意就您的具体情况提供建议。

样品制备

请注意，与样品建立电接触的能力在很大程度上取决于样品表面。接触力通常太小，无法穿透氧化层，因此样品应覆盖非氧化导体或形成导电氧化物的金属(例如Pt和Ru)。

Bruker的SmartTip™CIPT解决方案为工业界和学术界提供了几种高现场、高精度仪器，用于进行平面电流隧道测量。平面内和垂直场均可选择。

在开发新的前沿mems纳米技术微探针的使命驱动下，我们的目标是通过与客户的合作和协作，实现基于mems的微探针技术。我们的SmartTip解决方案定位于推进高科技纳米技术为基础的微探针应用，致力于质量和持续改进的开发。