频谱反射法
快速胶片计量完全适合现场生产质量评估
符伯利克
快速易化特征深片
光谱反射法是一种广泛使用胶片计量技术,通常用于主流制造环境,特别是用于高级打包、微电子和二电应用单层薄膜光谱解析法比光谱解析法方便快速测量和数据采集并需要相对不复杂配置和建模,使它快速易行地描述薄薄膜层厚度和光学特性(几纳米以上100微米以上 ) 。 这些系统常因相对速度、简单性以及与常见样本类型和测量要求相容而内部整合质量监控
雷竞技网页版FilpTek光谱反射计特征各种专利技术集成,大大扩展这些仪器的测量能力超出标准反射计能力,包括扩展可测量厚度范围并兼容异或散射材料和多层结构其结果,FilpTek光谱反射计使用户能够调查范围更广的样本并比可比工具更容易满足非标准胶片测量要求
