高温下的原位元素测绘

电子显微镜是研究高空间分辨率材料的手段。雷竞技网页版能量色散x射线光谱学(EDS)，可以在纳米尺度上绘制元素分布。最后，使用加热支架或任何其他原位反应单元，适用于电子显微镜和EDS，允许在电子显微镜中监测材料的原位或操作中处理的效果。雷竞技网页版这意味着关于结构和元素组成变化的信息可以以高空间分辨率定性和定量地获得。

在不同的高温下，使用Wildfire、DENS solutions的MEMS加热支架和Bruker对Pt-Pd测试样品进行了研究QUANTAX EDS系统与XFlash^®6t30探测器上的标准扫描透射电子显微镜(STEM)。探测器直径30毫米²在所使用的STEM中，在22°的起飞角下，有效区域实现了0.09 sr的收集角。样品架是一种新的特殊设计，提高了z方向的热稳定性，从而可以在室温到1000°C之间轻松监测相同的样品区域。EDS系统在每个温度阶跃下提供了合适的几分钟元素映射时间。
图1显示了Pt-Pd纳米颗粒随温度升高的变化过程。
图2展示了如何使用基于PCA的相分析和面积覆盖定量监测颗粒数量、大小和组成的发展。