薄膜和涂层的元素分析

使用FTIR光谱有许多化学识别薄膜和涂层的方法。它们是透过率、衰减全反射(ATR)、优雅角反射率(GIR)或红外反射吸收光谱(IRRAS)、偏振调制红外反射吸收光谱(PMIRRAS)．根据薄膜厚度、光学特性和支撑基片的不同，可以优先采用不同的测量模式。

金属涂层被用作环境屏障，积极保护底层材料不被降解。在工程和建筑材料中，它们应用于结构金属和合金。雷竞技网页版对于光学器件，它们被用作镜子和车灯反射器的镀银。金属涂层也发现在日常用品，如眼镜，器皿，手表，珠宝和玩具。这些涂层的性能在很大程度上取决于它们的厚度、晶体结构、化学成分和机械耐久性。布鲁克提供了广泛的电子显微镜或独立的分析工具，以促进这种涂层的发展。例如micro-XRF用于定量分析金属多层叠层的组成和涂层厚度。和电子显微镜分析仪(EDS, EBSD, WDS)快速可靠的定量化学和结构分析。

纳米材料雷竞技网页版通常用透射电子显微镜(TEM)来研究。然而，利用扫描电子显微镜(SEM)的大视场来定量地表征纳米材料是可能的。雷竞技网页版的轴上跆拳道技术就是为了这个目的而发展起来的;它现在是一种成熟的基于sem的方法，使用EBSD硬件在纳米尺度上进行方向分布测量。在该应用实例中，测量了金、铂薄膜的取向分布e-Flash FS探测器改装擎天柱跆拳道头部在FEG-SEM中。在低探头电流(<3 nA)下实现高速TKD测量，从而克服光束漂移并实现超高空间分辨率:在20分钟内测量了超过1000个晶粒，最小晶粒尺寸为20 nm，超细特征如孪晶边界被解析(3nm)。