液晶显示屏和光电子学
失效分析
基于红外光谱的CMOS传感器缺陷分析
光电子器件的分析是相当复杂的，因为现代系统是高度小型化的，由多种材料组成。雷竞技网页版特别是微观污染物的识别是特别感兴趣的，因为它们可以导致电子设备的故障。揭示污染的来源，从而进行有效的故障排除是关键的应用之一傅立叶变换红外显微镜。
它允许用户获得具有高横向分辨率的非常小结构的红外光谱，从而揭示样品中特定部分的化学成分。这使得FT-IR成为电子传感器和其他光电子器件的质量控制和故障分析不可或缺的工具。它可以帮助描述缺陷、损坏、污染等等。它甚至可以通过表征红外传感器来刺激产品开发。
质量控制
用拉曼显微镜研究液晶面板内的污染物
显示器、led、液晶显示器和更多的光电部件都用聚合物保护层或简单地粘在玻璃表面。在这两种情况下，如果材料是透明的，雷竞技网页版共聚焦拉曼显微镜有能力去看内部这样的程序集。
通常，非常小的污染物，如颗粒、纤维、灰尘和污垢是造成这种损坏的罪魁祸首。拉曼显微镜不仅可以发现这些微观杂质，还可以通过化学方法识别它们，以帮助发现这些产品缺陷的根本原因。用于以下损坏分析:
- 屏幕和LCD组件
- Touchpanels
- 安装传感器
材料研究
利用FT-IR对传感器和探测器进行表征
如今，探测器无处不在——智能手机、温度计、相机、电灯开关和许多其他设备。但在这些探测器开始在我们的日常生活中工作之前，它们必须被彻底地表征和优化。
这正是an傅立叶变换红外光谱仪可广泛应用于检测探测器的三个基本参数:
- 响应光谱带宽(UV/VIS/IR等)
- 反应所需的辐射能量
- 传感器响应时间
傅里叶变换红外技术在vcsel人脸识别中的应用
垂直腔面发射激光器(VCSEL)是一种特殊类型的半导体激光二极管，与传统的边缘发射激光二极管不同，它垂直于芯片表面发射。这使得它们很容易被封装成一个芯片上有数百个发射器的发射器阵列，然后可以放置在智能手机中(例如用于人脸识别)。
在VCSELs的分析中，傅立叶变换红外光谱与辐照度传感器和快速光电二极管相比，已被证明是一种优越的方法。其中一个优点是可以确定发射光谱。目前，研究主要集中在vcsel的表征方法上，以支持基础研究中vcsel的理论建模。你想了解更多吗?
将化学成分和微观结构与电学和光电性能相关联
光电器件主要依靠光刺激产生电脉冲，反之亦然。它们通常用作电子设备中的传感器或探测器。
基于sem的EDS和EBSD技术是结合使用的常用分析工具，用于研究化学成分和微观结构与光学、电气和机械性能的相关性，并且可以达到纳米级。深入的知识是可能的布鲁克先进的解决方案WDS, EDS, EBSD和TKD技术定量测量相位和方向分布。例如，它允许研究特定晶体取向、应变和晶粒或亚晶粒边界的性质对光电特性的影响。现场相关研究也可以用Bruker的方法进行QUANTAX EBSD而且Hysitron PI系列picodinters。
