金属薄膜的空间分辨层厚分析
点播会议- 60分钟
金属镀层的显微xrf分析
对于在生产过程中应用各种涂层的制造商来说，彻底了解涂层厚度和沉积膜的组成是至关重要的。布鲁克的空间分辨分布分析能力M4龙卷风Micro-XRF光谱仪和XMethod涂层分析软件能够分析点测量的涂层成分和层厚以及涂层区域的分布图。
本次网络研讨会将讨论在XMethod中创建层模型以及使用M4 TORNADO使用这种分析方法的应用。重点将放在不同基板上的金属涂层和不同的应用上，例如印刷电路板(PCB)上铜上的Au/Pd/Ni和玻璃上的金属涂层。将对校准标准的结果进行比较，以证明精度和可重复性。
本次网络研讨会将以15分钟的问答环节结束，届时我们的专家将回答您的问题。
谁应该参加?
- 质量控制专家确保电子工业中薄金属涂层的厚度和成分
- 涂层质量控制技术人员负责pcb涂层服务的质量保证和失效分析
- 研发人员
Sn, Br, Au, Bi, Cu, Ni和Si在PCB(存储器模块)上的元素分布
铝铜合金在玻璃基板上的成分空间分布(左)和分析厚度(右)
观看此网络研讨会点播
请在下面输入您的详细信息，以获得按需访问此网络研讨会。