布鲁克纳米分析提出:

M4 TORNADO PLUS - micro-XRF新时代

点播会议- 60分钟

M4 TORNADO微x射线荧光材料分析

布鲁克邀请你去了解M4龙卷风+,是久经考验、市场领先的M4龙卷风Micro-XRF分析仪。

微x射线荧光是一种通用的材料分析技术,在尺寸,形状或组成方面广泛的样品。M4龙卷风+提供了几个新颖的功能,增强了典型的Micro-XRF在地球科学和采矿、生物、聚合物研究或半导体工业等领域的应用。

使用超级光探测器入口窗口和优化的x射线管M4龙卷风+扩展了可检测元素的范围,从典型的钠/镁到碳。因此,氟,氧,氮,以及三维过渡金属(Ti-Zn)的l线,可用于微xrf分析。

另一个关键特征是第二个x射线管的全软件控制的准直器转换器,它可以在4种不同的光斑大小之间进行选择,以分析重元素。准直器可以设置为0.5 mm, 1 mm, 2 mm和4.5 mm的光斑尺寸,因此可以适应非常不同的分析挑战。

随着可选的计算机控制的He-purge系统的引入,即使是湿样品现在也可以在较长的时间内进行测量。它还允许在不应暴露于低压的样品中进行轻元素检测。仪器在氦气氛下对氧及以上的灵敏度与在2毫巴环境下的灵敏度相似。

对于非常不均匀的样品,可以通过使用新颖的光圈管理系统(AMS)来增加景深,该系统允许光斑尺寸小于其通常尺寸的一半,用于距焦4毫米的测量。

所有这些新功能都将由我们的应用专家现场展示,他们将很乐意在问答环节回答您的所有问题。

高三维晶体样品,用AMS -高景深测量
一个新鲜的草莓,在He气氛中分析了几个小时——没有干燥。

谁应该参加?

任何使用Micro-XRF技术的人或那些希望将这种方法纳入他们的研究中的人。

演讲者

马克斯·比格勒博士

应用科学家Micro-XRF,布鲁克纳米分析

福尔克莱因哈特

布鲁克纳米分析公司Micro-XRF高级应用科学家