显微镜下的文化遗产:通过扫描电子显微镜的先进元素分析获得精细细节

扫描电子显微镜的高空间分辨率分析是分析工作流程的基本组成部分，对任何艺术作品和文化遗产的完整调查都是必不可少的。当调查从宏观尺度开始时，非侵入性技术，如微xrf绘图，允许对最小的样本进行扫描电镜分析，以外科手术的精度，以最大限度地提高结果。此外，探测器技术的进步使得扫描电镜的元素表征更加快速，灵敏度更高，最大限度地减少了对有价值材料的额外损伤，同时提供了比以往任何时候都更容易获得的灵活配置。雷竞技网页版

本次网络研讨会将展示使用扫描电镜对文化遗产样本进行微观分析的例子，这些例子说明了布鲁克的能力XFlash®探测器范围，包括XFlash^®FlatQUAD环形SDD EDS探测器，该QUANTAX紧凑适用于小型SEM平台的EDS检测器XTrace in-SEM micro-XRF(QUANTAX Micro-XRF)。