x射线荧光(XRF)测量被广泛认为是在保护、修复、鉴定过程中,或在解决艺术品周围的历史问题时诊断的关键步骤。
仪器的硬件特点和性能只是数据采集的第一步。为仪器设计的软件包使用户能够从采集的数据中提取额外的信息。我们希望将这种数据处理方法推向中心舞台。
最近发布的ESPRIT Reveal软件是一款易于使用的工具,它为元素组成的研究提供了广泛的功能——不仅提高了定性信息,而且提供了定量数据的稳健计算。
在本次网络研讨会中,我们将继续介绍ESPRIT Reveal的核心功能,将重点转移到支持高级元素识别和量化的最先进和最复杂的功能上。
亨宁博士Schröder
布鲁克纳米分析公司microxrf产品经理
罗尔德·塔格勒博士
高级应用科学家Micro-XRF, Bruker Nano Analytics
米歇尔Gironda
市场部门经理,艺术和保护,布鲁克纳米分析
*注册表格为浏览器谷歌Chrome优化。两届会议的内容完全相同。