引入XTrace 2下一代增强Micro-XRF SEM

加入我们的发射XTrace 2,第二代x射线源micro-XRF SEM -用于我们的系统QUANTAX micro-XRF。

Micro-XRF SEM,也称为SEM光谱仪,为电子扫描电子显微镜用户提供额外的分析功能。增加你的SEM QUANTAX micro-XRF允许用户超越电子束的极限分析中使用SEM, EDS世界打开一个全新的分析。Micro-XRF SEM可以用于微量元素检测,层分析和高能基本线的检测,所有只有最小的样品制备。

在这网络研讨会,我们将向您介绍我们的新x射线源,XTrace 2的分析功能,micro-XRF扫描电镜进一步比以往任何时候都要多。配备了强大的50 W micro focus x射线Rh管,与35岁或10光学,XTrace 2可以访问高能元素,提供更多的信心测量和促进元素的检测在拥挤的光谱。

XTrace 2扩展micro-XRF在扫描电镜的功能,允许更多种类的样本分析。例如,地形的高分辨率成像样品在扫描电镜现在可能由于XTrace 2的开创性孔径管理系统(AMS)而系统的Flexispot模式可以用来精确测量非均匀样本。此外,该系统可以自动通过精神控制软件在汽车源收缩模式提供一个额外的安全水平。

加入我们在这个网络研讨会探讨潜在的micro-XRF SEM XTrace 2在一系列不同的应用程序。

谁应该参加?

• 科学家和研究人员从所有元素分析和电子显微镜分析领域感兴趣
• SEM用户想了解微量元素映射使用微x射线荧光
• SEM用户想分析分层样品中的元素
• Micro-XRF SEM用户谁想提高他们的分析功能

请在下面输入您的详细信息按需访问这个网络研讨会。