介绍micro-XRF SEM
点播会话- 52分钟
增加你的SEM与micro-XRF能力增强
扫描电子显微镜(SEM)是一个标准的分析工具在许多领域。现在可以增强扫描电镜的结合EDS探测器micro-XRF来源,因此SEM转换为双源系统与额外的分析功能。
这个网络研讨会将提供一个介绍micro-XRF SEM和显示增加的功能它可以带给你的SEM系统在众多分析领域。这将包括在各种应用程序,包括地质、采矿、取证、工业和半导体。分析覆盖的类型包括点分析、线扫描和映射,以及这种光谱仪激励分析如何你日常工作流程的一部分。另外,我们的XTrace x射线源结合快速阶段时,允许大区域映射内的样品扫描电镜室。这些功能突出增加的力量和多功能性与micro-XRF SEM。
在这个网络研讨会,我们将演示的好处增加的SEM分析功能添加micro-XRF来源,跨广泛的应用程序示例,包含两个元素分布映射以及量化,包括微量元素。的网络研讨会还将包括一个简短的演示操作micro-XRF源使用力量´s软件套件思捷环球。
谁应该参加?
- SEM所有用户在所有应用程序
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SEM-XRF扫描的主要和次要的元素atacamite-bearing样本历史在智利铜矿产区。
SEM-XRF扫描清楚指明各种砂的矿物颗粒。
演讲者
安德鲁·曼兹博士
高级应用科学家地质和采矿、力量纳米分析
Stephan Boehm
产品经理micro-XRF SEM和改进算法,力量纳米分析
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