D8 ADVANCE Plus
突出了
D8 ADVANCE Plus:多用途材料研究雷竞技网页版
D8 ADVANCE Plus -最大的灵活性满足无与伦比的易用性
D8 ADVANCE Plus是D8 ADVANCE的变体，代表了多用途、多用户实验室的终极x射线平台。该系统完美匹配所有样品类型的需求，包括粉末，块状材料，纤维，薄片和薄膜(非晶，多晶和外延):雷竞技网页版
- 传统x射线粉末衍射(XRD)
- 配对分布函数(PDF)分析
- 小广角x射线散射(SAXS, WAXS)
- XRR(反射仪)和HRXRD(摇摆曲线，倒数空间映射)
在环境和非环境条件下。
该系统的真正美妙之处在于它能够在多达6种不同的光束几何之间切换，从聚焦Bragg-Brentano粉末几何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何，以及介于两者之间的一切。完全由软件控制，只需按一下按钮。
无论示例类型和应用程序是什么，无论您是新手还是专家用户:D8 ADVANCE Plus以其无与伦比的灵活性和易用性为数据质量设定了新的基准。
市场的画廊
特性
关键特性
三个光学
获得专利的TRIO光学系统简化了D8 ADVANCE的使用，允许最大种类的应用和样品类型。考虑到用户的便利性，该系统的特点是在多达6种不同的光束几何之间自动、电动切换。无需用户手动干预，系统能够在三个波束路径之间切换:
- 聚焦Bragg-Brentano粉末
- 高强度平行束k α1,2用于毛细管，GID和XRR
- 外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何结构
它完全适用于环境或非环境条件下的所有样品类型，包括粉末、块状、纤维、片状和薄膜(非晶态、多晶和外延)。
雷竞技网页版材料研究阶段
Compact UMC和Compact Cradle Plus扩展了D8 ADVANCE Plus的样品处理能力，允许样品的复杂精确运动。Comact UMC工作台具有X 25毫米，Y 70毫米和Z 52毫米的电动运动，2公斤的样品容量，用于分析大体积样品或多个小样品。紧凑的摇篮Plus包括无限的Phi旋转和Psi倾斜从-5°到95°的应力，纹理和外延薄膜分析。此外，紧凑型摇篮Plus具有真空实用馈源，允许样品与一个小的薄膜样品架或大型手动XY表保持在适当的位置。这两个阶段都适用于非环境分析的圆顶温度阶段。他们也利用DIFFRAC。达芬奇stage bayonet mounting system for easy exchange of the sample stage.
eiger2r探测器
多模式功能(0D-1D-2D，快照和扫描模式)允许EIGER2 R探测器涵盖从粉末到材料研究应用的广泛测量方法。雷竞技网页版不是典型的万事通，EIGER2是所有应用程序的大师。动态范围允许无吸收器测量，超大1D尺寸用于超快速粉末测量和快速互反空间映射，超过500k像素用于大二维覆盖，EIGER2为多模探测器设定了新标准。EIGER2将DECTRIS公司的光束线探测器技术与BRUKER公司的软件和硬件集成结合成一个无缝的易于使用的解决方案。
应用画廊
eiger2r探测器
应用程序
一个衍射仪-所有应用
粉末衍射
x射线粉末衍射(XRPD)技术是材料表征最重要的工具之一。雷竞技网页版嵌入在粉末图案中的许多信息直接来自于所存在的相的原子排列。D8 ADVANCE和DIFFRAC。套件software allow support simple execution of common XRPD methods:
- 晶相和非晶相的鉴定和样品纯度的测定
- 多相混合物中晶相和非晶相的定量分析
- 微观结构分析(晶粒尺寸，微应变，无序度…)
- 由热处理或加工制造的部件产生的大块残余应力
- 纹理(首选方向)分析
- 标度、从头算晶体结构测定和晶体结构细化
残余应力与织构分析
残余应力和纹理测量通常在材料被推到极限的工业金属样品上收集。雷竞技网页版通过消除试样表面的拉应力或诱导试样表面的压应力，可以大大延长试样的使用寿命。这可以通过热处理或物理过程来完成，如喷丸强化。组成大块样品的晶体的取向决定了裂纹的扩展方式。通过在材料中形成特定的纹理，可以显著提高材料的性能。这两种技术在优化尖端制造方法(如增材制造)方面也很重要。
薄膜和涂料
薄膜和涂层的分析是基于与XRPD相同的原理，但有进一步的光束调节和角度控制。典型的例子包括但不限于，相识别，结晶质量，残余应力，纹理分析，厚度测定和成分与应变分析。薄膜和涂层的分析主要集中在纳米到微米厚度的层状材料的性质，从非晶和多晶涂层到外延生长的薄膜。雷竞技网页版D8 ADVANCE和DIFFRAC。套件software enable high quality analyses of thin films including:
- 掠入射衍射
- x射线反射计
- 高分辨率x射线衍射
- 倒数空间映射
应用画廊
规范
D8 ADVANCE Plus规格
功能 |
规范 |
好处 |
三个光学 |
软件按键切换: 电动分流缝(Bragg-Brentano) 高强度ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利:US10429326、US6665372、US7983389 |
全自动，电动切换多达6种不同的光束几何，无需任何手动用户干预 完全适用于所有样品类型，包括粉末，块状材料，纤维，薄片和薄膜(非晶，多晶和外延)雷竞技网页版 |
LYNXEYE XE-T |
能量分辨率:< 380 eV @ 8 KeV 检测方式:0D、1D、2D 波长:Cr, Co, Cu, Mo和Ag 专利:EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
不需要Kß滤波器和二级单色器 100%过滤铁荧光与铜辐射 比传统探测系统快450倍 BRAGG2D:用发散的主光束收集2D数据 独特的检测器保证:交货时无缺陷通道 |
EIGER2 R |
Dectris Ltd.开发的基于混合光子计数技术的最新一代多模(0D/1D/2D)探测器。 |
无缝集成0D, 1D和2D检测的步进，连续和高级扫描模式 符合人体工程学，无对准探测器旋转优化γ或2Θ角覆盖 全景，无工具衍射光束光学使用完整的探测器视野 连续可变探测器定位，以平衡角度覆盖和分辨率 |
转折。管 |
线和点聚焦应用程序之间的轻松，快速，和对齐自由切换 |
不得断开电缆或水管，也不得拆卸管道 达芬奇家具。设计: Fully automatic detection and configuration of the focus orientation |
紧凑型UMC舞台 |
电动X: 25毫米 电动Y: 70毫米 电动Z: 52毫米 容量:2kg |
对光束中大样本感兴趣区域的精确定位 安装多个样品自动测量 |
袖珍摇篮 |
机动Phi:无限 电动Psi: -5°到95° |
真空实用馈通，无忧样品安装 全4轴衍射允许纹理，残余应力和薄膜测量 |
D8测角仪 |
带有独立步进电机和光学编码器的两圈测角仪 |
布鲁克独特的对准保证所体现的无与伦比的精度和精度 绝对免维护的驱动机构/齿轮终身润滑 |
Non-ambient |
温度范围:~85K ~ ~2500K 压力:10 ^ ^ mbar至10巴 湿度:5% RH ~ 95% RH |
环境和非环境条件下的调查 使用DIFFRAC轻松交换stage。达芬奇 |
配件
XRD组件
布鲁克XRD溶液由高性能组件组成，以满足分析要求。模块化设计是配置最佳仪器仪表的关键。
所有类别的组件都是Bruker关键竞争力的一部分，由Bruker AXS开发和制造，或与第三方供应商密切合作。
布鲁克x射线衍射组件可用于升级已安装的x射线系统，以提高其性能。
软件
用DIFFRAC进行计划、测量、分析。套件
DIFFRAC。套件™ offers a wide range of software modules for easy X-ray powder diffraction data acquisition and evaluation. Based on Microsoft's .NET technology, DIFFRAC.SUITE offers all the advantages of modern software technology for stability, maximum ease of use and networking.
完全可定制的用户界面的特点是一个插件框架，提供了一个通用的外观、感觉和操作。所有测量和评估软件模块都可以作为单独的应用程序操作，也可以集成在DIFFRAC中。SUITE的插件框架。无限制的网络连接允许在客户网络中访问和控制任意数量的D2 PHASER、D8 ADVANCE、D8 DISCOVER和D8 ENDEAVOR衍射仪。
测量软件:
向导-方法规划
指挥官-方法执行和直接测量
工具—业务接口
粉末衍射软件:
DQUANT-定量相分析
伊娃相识别和定量相分析
TOPAS-剖面分析，定量分析，结构分析
雷竞技网页版材料研究软件:
一枝-小角度x射线散射软件
XRR-综合x射线反射分析
纹理-全方位纹理分析满足易用性
LEPTOS薄膜分析/残余应力研究
