D8发现
最佳XRD性能
突出了
D8 DISCOVER是旗舰型多用途x射线衍射仪，提供领先的技术组件。它是为在环境和非环境条件下对从粉末、非晶态和多晶材料到外延多层薄膜的各种材料进行结构表征而设计的。雷竞技网页版
应用程序:
- 相鉴定与定量，结构确定与细化，微应变与晶粒尺寸分析，
- x射线反射，掠入射衍射(GID)，面内衍射，高分辨率XRD, GISAXS, gi -应力分析，晶体取向分析
- 残余应力分析，纹理和极点图，微x射线衍射，广角x射线散射(WAXS)，
- 全散射分析:布拉格衍射，对分布函数(PDF)，小角度x射线散射(SAXS)
市场的画廊
特性
关键特性
微聚焦源IµS
配备MONTEL光学器件的IµS微聚焦源提供了一个小的高强度x射线束，非常适合小区域或样品的研究。
- 毫米大小的光束具有高亮度和超低背景
- 绿色设计，低功耗，无水消耗，延长组件寿命
- MONTEL光学优化光束形状和发散
- 完全兼容我们的大量选择的组件，光学和探测器。
UMC样品阶段
D8 DISCOVER提供了多种UMC平台，具有无与伦比的映射和重量能力:
- 对重量不超过5公斤的样品进行测绘
- 可对300毫米以下的样品进行大面积测绘。
- UMC级用于高通量筛分(HTS)，最多支持3个井板。
由于高度模块化，UMC级可以定制，以满足超出标准配置的客户要求。
多模eiger2r探测器
EIGER2 R 250K和500K是将同步加速器性能带到实验室x射线衍射的2D探测器
- 先进的传感器设计，包括第二代革命性的EIGER:高达500.000像素，尺寸为75 x 75 mm²，可实现微观分辨率的宏观覆盖。
- 它的人体工程学设计允许适应探测器的位置和方向，以最少的努力，以应用要求。这包括0°/90°方向之间的无工具切换和具有自动校准的连续可变检测器位置。
- 全景光学和配件的视野畅通无阻。
- 0D, 1D和2D操作模式与快照，步进，连续或高级扫描模式。
- 完全无缝集成到DIFFRAC.SUITE中。
三人组和探路者加光学
获得专利的TRIO光学可以在三个波束路径之间自动切换:
- 聚焦Bragg-Brentano粉末
- 高强度平行束k α1,2用于毛细管，GID和XRR
- 外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何结构
的开拓者+Optic包括一个自动吸收器，以确保测量强度的线性，并允许在以下之间切换:
- 用于高通量测量的电动狭缝
- 用于高分辨率测量的分析仪晶体
配备TRIO和PATHFINDER+D8 DISCOVER掌握所有样品类型，包括粉末，块状，纤维，片状和薄膜(非晶，多晶和外延)在环境或非环境条件下，不需要任何重新配置。
应用程序
高级x射线衍射
薄膜分析
x射线衍射(XRD)和反射在薄层结构样品的无损表征中起着主导作用。D8 DISCOVER和DIFFRAC。套件software support simple execution of common XRD methods in thin film analysis:
- 掠入射衍射(GID)用于晶体相的表面敏感识别和结构性质的确定，包括晶体大小和应变。
- x射线反射仪(XRR)用于多层样品的厚度，材料密度和界面结构的提取-从简单的衬底到高度复杂的超晶格结构。
- 用于外延生长样品结构分析的高分辨率x射线衍射(HRXRD):层厚，应变，松弛，镶嵌性，混合晶体的成分分析。
- 应力和纹理(优选取向)分析
雷竞技网页版材料研究
XRD是材料研究中最重要的工具之一，因为它可以将材料的结构和物理性能联系起来。雷竞技网页版D8 DISCOVER是用于材料研究的旗舰XRD仪器。雷竞技网页版D8 DISCOVER配备了领先的技术组件，提供顶级性能和充分的灵活性，使研究人员能够对其材料进行详细的表征:雷竞技网页版
- 相鉴定和结构确定
- 微米应变和晶粒尺寸分析
- 应力和织构分析
- 颗粒大小和分布的测定。
- 使用微米大小的x射线束进行局部XRD分析
- 倒数空间映射
筛选和大面积绘图
当涉及到高通量筛选(HTS)和样品大面积映射时，D8 DISCOVER是最终解决方案。UMC的样本阶段提供了一系列的运动，使D8 DISCOVER在机动平移和重量能力方面独步独秀:
- 孔板和沉积样品反射和透射的高通量筛选
- 对尺寸不超过300毫米的样品进行测绘
- 安装和测绘重达5公斤的样品
- 自动化接口
应用画廊
规范
D8发现规格
| 规范 | 好处 | |
| 捻管 | 轻松切换点和线焦点 可用阳极:Cr, Cu, Mo, Ag Max。电源和灯丝:根据负极材料(0,4 x 16 mm²)，最高可达3kw 专利:EP 1 923 900 B1 |
快速改变波长，完美匹配不同的应用 线和点对焦之间的快速切换，应用范围更广，在更短的时间内获得更好的结果 |
| IµS微聚焦源 | 电源负载:最高50w，单相电源 MONTEL和MONTEL Plus光学组合平行和聚焦镜。 光束尺寸可达180 x 180 μ m²。 最大综合通量8 x 10⁸cps在镜像出口。 光束散度下降到0.5 mrad |
毫米大小的光束具有高亮度和超低背景 绿色设计，低功耗，无水消耗，延长组件寿命 优化光束形状和发散度以获得最佳效果 |
| 涡轮x射线源(TXS) | 线聚焦，0.3x3 mm² 焦亮度6kw /mm² 负极材料:C雷竞技网页版u, Co, Cr, Mo Max。电压50千伏，最大。功率取决于阳极材料:Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW 预对准钨丝 |
与标准陶瓷x射线源相比，强度高达5倍。 非常适合线和点聚焦应用 预对齐灯丝允许快速灯丝交换，最小的重新对齐要求。 |
| 三个光学 | 软件按键切换: 电动分流缝(Bragg-Brentano) 高强度ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利:US10429326、US6665372、US7983389 |
全自动，电动切换多达6种不同的光束几何，无需任何手动用户干预 完全适用于所有样品类型，包括粉末，块状材料，纤维，薄片和薄膜(非晶，多晶和外延)雷竞技网页版 |
| 高分辨率单色仪 | 对称和非对称几何中的Ge(220)和Ge(004)反射 2-bounce和4-bounce (Bartels型)单色仪 通过SNAP免对准安装。锁定技术 |
广泛的选择最佳分辨率和强度平衡，以获得最佳的可能结果。 快速交换单色剂以优化不同样品 |
| D8测角仪 | 带有独立步进电机和光学编码器的两圈测角仪 | 布鲁克独特的对准保证所体现的无与伦比的精度和精度 绝对免维护的驱动机构/齿轮终身润滑 |
| 联电阶段 | 样本阶段族 X,y的样品平移高达+/- 150毫米 z-Drive行程可达50毫米 驱动无限旋转 Max。Psi倾角高达55° Max。重量(中心位置):50公斤 |
无与伦比的容量，样品重量和尺寸 能够实现大型定制样品室 |
| 中心欧拉摇篮(CEC) | 五自由度样本阶段: X,y为样品平移+/-40毫米 z-Drive高度对齐 φ驱动可360°旋转 Psi驱动和角度范围从-11°到98° Max。重量负载:1kg 可提供各种舞台附件。 |
侧倾角的应力和纹理测量精度更高的结果。 (x,y)中的自动映射功能。 电动倾斜台，用于精确的表面校准。 粉末或毛细管旋流器允许粉末衍射。 刺刀样品台架快速和可重复的交换与其他阶段。 |
| 探路者+光学 | 软件按键切换: 机动狭缝 双跳锗分析仪 自动吸收器集成 |
全自动，电动切换两种不同的光学系统，无需任何手动用户干预。 保持LYNXEYE探测器的全视场。 减震器保证了测量数据的线性 |
| LYNXEYE XE-T | 能量分辨率:< 380 eV @ 8 KeV 检测方式:0D、1D、2D 波长:Cr, Co, Cu, Mo和Ag 专利:EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
不需要Kß滤波器和二级单色器 100%过滤铁荧光与铜辐射 比传统探测系统快450倍 Bragg2D:用发散的主光束收集2D数据 独特的检测器保证:交货时无缺陷通道 |
| EIGER2 | Dectris Ltd.开发的基于混合光子计数技术的最新一代多模(0D/1D/2D)探测器。 | 无缝集成0D, 1D和2D检测的步进，连续和高级扫描模式 符合人体工程学，无对准探测器旋转优化γ或2Θ角覆盖 全景，无工具衍射光束光学使用完整的探测器视野 连续可变探测器定位，以平衡角度覆盖和分辨率 |
| Non-ambient | 温度范围:从~ 12k到~ 2500k 压力:10 ^ ^ mbar至100巴 湿度:5% RH ~ 95% RH |
环境和非环境条件下的调查 使用DIFFRAC轻松交换stage。达芬奇 |
配件
XRD组件
布鲁克XRD溶液由高性能组件组成，以满足分析要求。模块化设计是配置最佳仪器仪表的关键。
所有类别的组件都是Bruker关键竞争力的一部分，由Bruker AXS开发和制造，或与第三方供应商密切合作。
布鲁克x射线衍射组件可用于升级已安装的x射线系统，以提高其性能。
软件
在线研讨会
在线研讨会
耗材
更多的信息
D8发现资源
应用说明、报告和产品表
- 药品的快速XRD分析:用EIGER2 R 500K的1D和2D模式快照
- EIGER2 R 500K的大面积RSM: InxGa1-xN LED、GaAs和Si1-xGex外延薄膜的分析
- μXRD在EIGER2 R 500K地质中的应用:美国佐治亚州格雷夫斯山青晶石的原位研究
- EIGER2 R 500K的残余应力:硅上多晶钨涂层的0D, 1D和2D研究
- 用EIGER2 R 500K和DIFFRAC进行纹理分析。纹理: Investigation of Rolled and Drawn Aluminum Sheets
- D8 DISCOVER with IμS， μXRD相映射
- 基于IμS微聚焦源的D8发现，平面掠入射衍射(IP-GID)
- D8 DISCOVER with IμSHigh Brilliance Microfocus Source, x射线反射
- D8 DISCOVER with IμSHigh Brilliance Microfocus Source, Powder Diffraction
- D8发现与PILATUS3 R 100K-A，薄膜的2D RSM
- D8发现与PILATUS3 R 100K-A, 2D GI-SAXS
- D8发现与PILATUS3 R 100K-A，石英二长岩微XRD2
- D8发现与PILATUS3 R 100K-A，聚合物XRD2
- D8发现与PILATUS3 R 100K-A，纹理分析与XRD2
- D8发现与PILATUS3 R 100K-A，残余应力分析与XRD2
- 控制样本定位的通用运动概念和欧拉摇篮
- EIGER2 R用于D8家族
