力量3 d x射线显微镜(XRM)结合微型电脑断层扫描(ct机)硬件和专用软件成为一个完整的微观可视化解决方案。从micro-resolution台式nano-resolution地板站仪器,力量XRM解决方案提供易用性和力量的完美平衡。
从地质标本测量孔隙度的厚度多个涂料制药平板电脑或电路的芯片级和板级互连结构,XRM允许快速多尺度分析。非破坏性的本质XRM允许验证组件完整性将QC加法制造等制造技术提高到一个新的水平。
力量的软件提供了简单的按钮接口技术人员和研究人员和专家的特殊深度新手寻求推动边界的样品和技术。重建完成最新的显卡驱动算法提供大型数据集的结果在很短的时间。包括分析包允许定性可视化和定量回归。
规范 |
SKYSCAN 1275 |
1272年SKYSCAN互补金属氧化物半导体 |
SKYSCAN 1273 |
2214年SKYSCAN互补金属氧化物半导体 |
外观尺寸(w x d h,毫米) |
1040 x 665 x 400 |
1160 x 520 x 330 |
1250 x 820 x 815 |
1800 x 950 x 1680 |
重量(没有可选的电子) |
170公斤 |
150公斤 |
400公斤 |
1500公斤 |
源 |
40 - 100千伏 |
40 - 100千伏 |
40 - 130千伏 |
20 - 160千伏 |
探测器 |
3像素的平板 |
16像素CMOS |
6 Mp平板 |
6 Mp平板 16个议员大互补金属氧化物半导体 16像素CMOS中期 15像素高分辨率CMOS |
马克斯样本大小(直径、高度) |
96毫米,120毫米 |
75毫米,80毫米 |
300毫米,500毫米 |
300毫米,400毫米 |
最小分辨率(体素、空间) |
< 4µm, < 8µm |
< 0.45µm, < 5µm |
< 3µm < 6µm |
60 nm, < 500海里 |
测量、重建和分析软件 |
包括 |
包括 |
包括 |
包括 |