XFlash 6 - 10

最新一代x射线探测器的核心部分是一个函数根据硅片漂移室的原则。

由于特殊的芯片设计与集成电荷放大器XFlash^®可以处理高计数率,同时显示一个优秀的能量分辨率,无与伦比的其他硅基能量色散x射线探测器。

总之,XFlash^®6 - 10提供了以下优点:

• 杰出的能量分辨率(限量版121 eV Mn Kα,38个电动车在F C Kα和47 eV Kα可用)
• 其他可用的分辨率是123、126和129年在Mn KαeV
• 极高的脉冲负载能力
• 优良的光元素和低能量性能(- Am元素范围)
• 没有精心设计,vibration-generating冷却系统
• 上电后立即
• 低运营成本
• 不需维护的操作
• 小尺寸,包括款超薄的线性技术的手指
• 低体重

建议申请XFlash领域^®6 - 10:

• SEM, EDS系统探针,FIB-SEM(焊接波纹管可以作为一个选项)
• 光元素和低能量范围分析