XFlash 6 - 100

特殊情况需要非常特殊的探测器。的XFlash^®6 - 100是为这种情况下,有限的信号。例如是这种情况在分析样品或当使用Cold-FEG SEM非常敏感。大的100毫米²有效面积和窄端帽提供最大的立体角甚至允许在短时间获得光谱在这些不利条件。与此同时,XFlash^®6 - 100有相同的高计数率能力小的探测器(1500 kcps输入),使之成为一个真正独特的EDS分析仪器。

总之,XFlash^®6 - 100提供了以下优点:

• 好的能量分辨率(129 Mn KαeV, 57 eV C Kα和67 eV F Kα)
• 极高的脉冲负载能力
• 良好的光元素和低能量性能(元素范围是-我)
• 没有精心设计,vibration-generating冷却系统
• 上电后立即
• 低运营成本
• 不需维护的操作
• 小尺寸
• 低体重,包括款超薄的线性技术的手指

建议申请XFlash领域^®6 - 100:

• SEM, EDS系统探针,FIB-SEM(焊接波纹管可以作为一个选项)
• 低束电流和敏感样品分析(sem与冷磁场发射器)