XFlash 6-60
用于纳米分析的大面积SDD
XFlash 6-60探测器
大活动面积60毫米2芯片与纤细的探测器手指一起提供了一个大的实心角度。的XFlash®因此，6-60注定用于x射线产量相对较低的应用，这在纳米分析领域很常见。由于探测器在Mn Kα和相应的C和F分辨率下也提供了非常好的126 eV的能量分辨率，它还可以在低能量范围内舒适地使用，这也是该领域的一个要求。
总之，XFlash®6-60有以下优点:
- 非常好的能量分辨率(Mn Kα下有126 eV, C Kα下有51 eV, F Kα下有60 eV)
- 其他可用的分辨率为129ev在Mn Kα
- 极高的脉冲负载能力
- 优良的轻质元件和低能耗性能(元件范围Be - Am)
- 没有精密的振动冷却系统
- 上电后立即可用
- 运营成本低
- 不需维护的操作
- 小尺寸，包括纤细的技术手指
- 低体重
XFlash的建议应用领域®6-60是:
- SEM，微探针，FIB-SEM的EDS系统(焊接波纹管可选)
- 结合EDS和高分辨率EBSD分析与eFlash FS
- Nano-analysis