这种面积大,采集角度高,无窗EDS检测器椭圆形100mm2SDD为每个合适的杆件几何形状精心定制。独特的外形和最先进的细线设计可以优化采集几何,以适应非常具体的改造条件。
在超过13°起飞角的STEM中,用于x射线收集的固体角度可达0.7 sr,提供原子柱元素映射和单个杂原子识别[1,2]。
[1]室温多铁材料中磁性离子分配的直接原子尺度测定(开放)
科学报告7,(2017)论文编号:1737;作者:L. Keeney等。
[2]单杂原子的x射线光谱鉴定(开放)
应用物理快报第108卷,第16期,163101 (2016);作者:R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde和O. L. Krivanek
总之,XFlash®6T-100椭圆型具有以下优点:
XFlash的建议应用领域®6T-100椭圆形有:
通过TEM和STEM中的EDS进行高端元素分析,包括像差校正电镜,旨在: