XFlash FlatQUAD

采取EDS新的限制

使用最新的探测器技术

的XFlash®FlatQUAD的核心QUANTAX FlatQUAD,是基于一种新型探测器的概念。这包括定位检测器从侧面极片和样品之间。因此,探测器安装在水平端口扫描电镜室。传统检测器,很少延伸下极片需要一个斜港。为了确保与许多不同的SEM类型兼容,探测器可以精确定位在X, Y和Z方向。

四个独立的硅漂移探测器XFlash的芯片®FlatQUAD在一个环形布置探测器模块上的一个洞。主要的电子束穿过这个开口。这个设计,以及打算保持探测器手指尽可能薄,需要一种新的方法来防止背散射电子探测器芯片。探测器配备特殊聚合物不同厚度的窗户。他们吸收x射线背散射电子,同时允许通过。聚合物窗户都安装在一个滑动条允许改变他们在不影响真空。这使得扫描电镜加速电压变化在探测器测量位置。

功能原理XFlash FlatQUAD

优秀的立体角和计数率的能力

位置和大小(4×15毫米2活动区域)探测器芯片提供最大的立体角在扫描电镜x射线采集。根据特定的几何条件超过1起飞sr可以结合高60°角或更多。收集效率会导致非常高计数率。所有四个探测器芯片因此配备独立的信号处理通道。这允许输入计数率(ICR) 4000000 cps和联合输出计数率(OCR) 1600000 cps。的XFlash®FlatQUAD提供了一个极好的能量分辨率126 eV Mn Kα和100000 cps输入计数率(51电动车在F C K和60 eV K)。决议类129 eV和133年的电动车也可以。

XFlash FlatQUAD立体角和OCR detector-sample距离图的函数输出的计数率(OCR)可以实现对铜在5 kV加速电压,1 nA束电流和探测器立体角,理论上计算根据内斯托尔·j . Zaluzec探测器固体角公式