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电子显微镜分析

QUANTAX ED-XS

简单提供负担得起的科学

可靠和负担得起的EBSD

也可以在桌面SEM

完整的
分析能力
覆盖超过95%的应用程序
eFlash XS和XFlash 630探测器是完全集成在精灵软件套件
低
初始投资成本
EBSD低排放和低成本的sem
eFlash XS EBSD探测器可以安装在较低的足迹和负担得起的sem没有不合理的昂贵
低
拥有成本
低失效概率和低停机时间
eFlash XS是由一个高可靠性的CMOS相机。在相机的情况不太可能出现故障,e-Flash XS探测器将在几天内换成一个字段。

简单提供负担得起的科学

QUANTAX ED-XS是一个新产品包结合新的和独特的eFlash XSEBSD检测器与健壮XFlash®EDS探测器多才多艺思捷环球软件套件。这种硬件和软件组合是一个新方法提供强大的分析工具尚未提供的更大的显微镜社区EBSD功能直到现在。这里有它的好处:

  • 初始投资成本要低得多
  • 非常低的停机时间:现场探测器在几天内更换
  • 负担得起的服务合同选项
  • 容易使用EBSD:不需要校准和用户可更换屏幕
  • 安全操作:不使用时,有0%的机会与SEM意外碰撞阶段或其他工具在扫描电镜室
联系我们 下载手册

为什么我需要在我的桌面或W-SEM EBSD吗?

  • 半自动颗粒大小和形状分布
  • 定量分析使用构造子集的微观结构
  • 区域/变形和再结晶颗粒的体积分数
  • 晶界的分析
  • 阶段识别和分布分析
  • 相关的化学和晶体的结果
  • 取向分布,晶体结构分析

你分析的挑战是什么?

晶体定向地图

高空间分辨率EBSD映射一个eFlash FE-SEM XS

EBSD的空间分辨率是受到多种因素的影响,最重要的是:当地平均Z的样本数量,加速电压和探测电子束的大小。降低最后两个导致空间分辨率也显著提升产量下降导致一个强大的信号。
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相位分布地图铁氧体相红色和奥氏体相用绿色;相比例分别是39%和61%;映射:18:01min,地图大小:548000像素,0解决方案:5.7%。没有数据清洗应用!

不锈钢的特性的微观结构特征

原始的金属和合金的力学性能控制通过各种形变场形成过程序列,如轧制、锻造、挤压等在房间或高温。
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晶体取向的Ni-alloy地图样本,显示每个晶粒的取向有关描述的颜色代码在左上角与样品表面正常;收购速度:510帧/秒,零解决方案:1.3%。没有数据清洗应用!

相关的粮食统计数据与各种工业合金上的属性

EBSD技术的最重要的一个好处是可靠的粮食统计数据的输出,如平均直径的大小和分布,可与各种相关分析材料的性质,如硬度、强度、塑性成形性,等等。
阅读更多
模式质量地图重叠阶段地图Si谷物在红色;尽量减少所需的时间设置的EBSD测量样品与未知的类型和数量的阶段,一个人可以没有识别所有阶段启动收购;所有其他阶段可以离线识别,在后者的时间并完成地图使用极端的力量重新ESPRIT软件

阶段识别和分布分析

QUANTAX ED-XS是一个完全集成的EDS和EBSD系统使广泛的分析类型使用EDS或EBSD单独或同时包含这两种技术。
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