单杂原子的x射线光谱鉴定

纳米材料中的单个杂原子对材料的性能起着至关重要的作用。雷竞技网页版为了获得对材料性质的最大控制，研究人员必须能够检测和识别不同厚雷竞技网页版度和组成的样品中的不同杂原子。在这里，我们展示了在扫描透射电子显微镜中用能量色散x射线能谱识别两相碳质纳米混合物中的单个Si, S, P和Ca杂原子。为了充分证明该技术的稳健性和相对于电子能量损失能谱在单原子形态形成方面的潜在优势，对样品厚度或杂原子种类没有任何先验约束。x射线谱采集时间为8 ~ 57 s，归一化计数率为0.096 ~ 0.007计数s-1 pA-1。通过最小化电子束光栅的过采样面积，使原子上的有效停留时间最大化，从而实现了最低次数/最高有效计数率。

了解更多:单杂原子的x射线光谱鉴定(开放)

应用物理快报第108卷，第16期，163101 (2016);作者:R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde和O. L. Krivanek