毫升+

用x射线荧光分析(XRF)可以很容易地测定多层样品的层厚和化学成分。层状样品直接在波长色散x射线荧光光谱仪(WDXRF)上进行分析。S8老虎．

毫升⁺扩展光谱⁺用于波长色散x射线荧光分析(WDXRF)对单层和多层样品的分析。它允许直接测定层样品的厚度和组成，小到几个原子层(小于1纳米)，大到微米甚至毫米范围。

毫升⁺对所有计算都使用完整的基本参数方法。MLplus中厚度和成分的测定是基于光谱的无标准校准⁺，即不需要特定的多层标准。然而，任何可用的多层标准都可以用来优化结果。

毫升⁺一旦建立模型，可用于每次测量后的自动评估。这使得多层分析可用于常规工艺控制，例如在生产层状玻璃或镀膜钢。