傅立叶变换红外光谱仪

INVENIO®

特性

用于常规、研发的先进FT-IR分析

INVENIO®FT-IR光谱仪

INVENIO®

INVENIO从常规的质量控制到先进的研发都是创新的。无论您是专注于生产力、精度,还是必须遵守广泛的法规,INVENIO都能在各方面为您提供支持。

受益于我们的创新

  • 新设计的高信噪比波束路径
  • 嵌入式触摸屏PC,快速高效的FT-IR分析(可选)
  • 第二个样品室用于两个ir设置的平行可用性(运输TM
  • MultiTectTM技术增加了5个检测器,允许多达7个内部检测器
  • 可选精确积分TM干涉仪与< 0.085厘米-1分辨率和3倍分束器改变全自动多光谱范围光谱
  • 新的SoC电子器件提供光谱精度和低能耗
  • 独特的布鲁克调频测量MIR和FIR在一个去
  • 可从FIR扩展到VIS/UV和时间分辨光谱

需求变化,INVENIO适应

您的应用程序是衡量事物的标准,INVENIO支持您的努力。如果您的分析需求增长,INVENIO也会跟上。这是你日常分析任务所需要的坚实基础。

优秀的敏感性

凭借其新颖,高效的光束路径设计和精确的光学系统,由最先进的SoC电子设备控制,INVENIO提供了峰值性能并揭示了最小的光谱细节。

强大的软件

作品,最强大的红外分析软件解决方案之一,简化了测量程序,支持FT-IR初学者和专家,提供了一个庞大的方法创建工具集,并提供了扩展功能的样本评估。

总是验证

INVENIO配备了全自动PQ(性能确认)和OQ(操作确认)程序,用于在受监管的制药实验室进行仪器验证。

体验质量

布鲁克只使用优质材料的每一个组件,从耐用的外壳到我雷竞技网页版们的专利,无磨损,高精度干涉仪设计。INVENIO是耐用的,并提供多年的永久可用性。

永远不要限制自己

  • 随时升级,扩大光谱范围
  • 启用步进扫描,快速扫描和交错TRS
  • 涵盖从FIR到VIS/UV的每个细节
  • 更换配件,探测器和分束器在几秒钟内
  • 使用外部模块TGA,显微镜或发射分析等等
  • FT-Raman模块增强分析的可能性
  • 符合GMP, GLP和21 CFR第11部分

更多的分析

将INVENIO匹配到几乎任何样品类型和开关采样配件在几秒钟内,而第二个样品室允许两个实验设置并行可用。

更少的努力

为了始终确保最佳的测量参数,所有中心设备组件都进行了电子编码。此外,可选的嵌入式触摸PC提供了惊人的,直观的用户体验和最先进的连接功能。

所使用的技术受以下一项或多项专利保护:US 7034944

严格的质量控制需要INVENIO

日常及质量控制

傅立叶变换红外光谱分析

INVENIO从常规的质量控制到先进的研发都是创新的。无论您是专注于生产力、精度,还是必须遵守广泛的法规,INVENIO都能在各方面为您提供支持。

更好的FT-IR更智能的QC

INVENIO的触摸屏PC(可选)提供直观的用户界面和智能连接功能。在实验室测量,从您的办公室评估-所有这些都不需要电缆或手动数据传输。预定义的工作流最大限度地减少了操作人员对一些交互的努力,而功能保持不妥协。

可靠的。非常高效。生产力。

从基本的QC/QA到苛刻的研究应用,无论您使用的是标准ATR单元,特殊的多角度反射单元或成像显微镜。您可以依靠简单的分析和最佳的测量结果。

你可以信赖的QC。总是这样。

PermaSureTM始终监控设备配置和快速自检,以确保正常的功能,而PerformanceGuardTM通过持续监测所有机械和电子部件,确保最佳的仪器性能。

灵活的傅立叶变换红外光谱

节省大量的时间,总是有两个实验设置准备与过境TM通道(ATR或传输选项可用),独立的第二样品室与专用的DTGS检测器

FT-IR光谱触手可及

OPUS TOUCH Windows, ALPHA和INVENIO

法规和合规

  • 自动化OQ和PQ
  • 全球审计跟踪和智能存档
  • 完全符合GMP/GLP, JP, Ph.Eur和USP,包括21 CFR第11部分

简单的可扩展性

  • FT-IR成像和显微技术(HYPERION)
  • 高通量测量(HTS-XT)
  • 水中蛋白质分析(CONFOCHECK)
  • 热重分析(TGA)

嵌入式触摸PC机

  • 预定义的快速分析工作流程
  • 非常适合FT-IR初学者
  • FT-IR专家无限制访问
  • 支持无线连接功能

最佳软件解决方案

  • OPUS是振动光谱学的一体化解决方案
  • 直观的界面和方法创建工具
  • 庞大的光谱参考库

好处

多光谱研发

研发

  • 涵盖从远、中、近红外到VIS/UV的全光谱范围
  • 光谱分辨率< 0.085 cm-1
  • 每秒测量> 70个光谱@16厘米-1快速扫描分辨率
  • 应用步进扫描进行低纳秒范围内的时间分辨测量
  • 针对高信噪比的新型波束路径设计
  • 多达7个内部软件控制探测器
  • 最多2个输入端口和3个输出端口
  • 各种各样的配件,以完美适应您的样品
  • 大量的外部模块,以解决先进的测量设置
  • 精密电子学进一步提高光谱质量

发现。发展。先锋。

INVENIO致力于研究。比如MultiTectTM, RockSolidTM干涉仪或积分仪TM带自动分束变换器的干涉仪,Bruker FM,快速扫描,步进扫描,交错TRS,当然还有TransitTM通道,让您进行出色的FT-IR分析。

独特而令人兴奋的:MultiTectTM

INVENIO采用独特的检测技术,最多可提供五个自动化室温或热稳定检测元件。这使得它可以覆盖80厘米的整个光谱范围-1至6000厘米-1或4000厘米-1至28000厘米-1无需任何硬件更改。连同附加的数字TM槽(例如用于LN2冷却探测器)和专用传输TM检测器这允许多达七个内部检测器。

布鲁克FM:无价

不间断、不言自明、直截了当:这就是布鲁克FM。覆盖整个MIR和FIR光谱范围从80厘米-1至6000厘米-1在一次实验中,并使费力的光学元件的变化和光谱合并成为过去的遗迹。

毫不费力的精度:整体TM干涉仪

新颖,无磨损积分TM具有自动3位分束器(BMS)变换器的干涉仪是布鲁克MultiTect的完美对应物TM技术。与MultiTect一起TM以及软件控制的光源选项,从FIR到VIS/UV的整个光谱范围都可以完全自动化覆盖,无需手动更换任何光学组件。

看一下时间分辨方法

时间分辨技术,如步进扫描,快速扫描或布鲁克的独家交错TRS是研究和阐明快速动力学过程的关键。使用快速扫描并获得更深入的见解,例如溶液中的化学反应或利用步进扫描到低纳秒范围进行可重复的实验,几乎没有问题没有答案。

无与伦比的系统智能和无数的扩展

让您的FT-IR分析受益于智能功能,如电子编码窗口,内部衰减轮,发射旁路,8倍验证轮和可选触摸操作。提升INVENIO几乎任何扩展,如显微镜,拉曼或PL模块,TGA耦合,外部样品室等等。

应用程序

INVENIO的应用

FT-IR的应用不计其数。INVENIO完全适用于任何需要高灵敏度、光谱或时间分辨率、稳定性、灵活性和可升级性的场景。提高您在任何工业或研究应用领域的日常分析经验。

质量控制

  • 到货核查
  • 产品缺陷的排除
  • 识别未知污染物

雷竞技网页版材料的表征

  • 挥发性成分的测定
  • 分解过程的表征
  • 光学材料的表征雷竞技网页版

半导体

  • 硅片中氧和碳含量的测定
  • 近红外光谱范围的光致发光测量

研发

  • 时间分辨光谱学
  • 傅立叶变换红外光谱电化学法
  • 低温实验
  • FT-IR显微镜和成像
  • 现场反应监测
  • 振幅调制(AM)光谱学

制药与生命科学

  • 评估医疗药品的稳定性和挥发性成分
  • 区分活性药物成分的多态性
  • 蛋白质构象和浓度
  • 微生物鉴定

聚合物和化学品

  • 高分子复合材料中无机填料的鉴定
  • 无机矿物和颜料的鉴定
  • 多层分析
  • 组成的调查
  • 反应监测和反应控制
  • 聚合物的动力学和流变光学研究
  • FT-Raman适用于不同的应用领域

环境

  • 监测污染(即微塑料)
  • 土壤特性

规范

技术细节

INVENIO充满了迷人的创新。我们相信INVENIO是大多数分析性问题的通用解决方案,无论是工业问题还是纯科学问题。

坚定的干涉仪

的RockSolidTM干涉仪是永久对准和抗振动或热效应。它的无磨损枢轴机构和高通量设计保证了即使在恶劣环境下也具有卓越的灵敏度、稳定性和可靠性。

可靠的来源

CenterGlowTM是布鲁克技术,管理源的磨损,因此确保最佳性能和延长其使用寿命。此外,两个内部源位置和两个外部输入端口是可用的,两者都使用内部孔径轮。

自动化程度最高——一体化TM

可靠性和舒适性。创新积分TM干涉仪受益于高精度的立方体角镜和主动对准平稳运行的BMS变换轮与完全可重复的分束器插入。结合5x MultiTectTM检测器技术,DigiTectTM探测器位置和多源可选,完整光谱范围从28000厘米起-1缩小到15厘米-1可覆盖最佳性能,无需手动更换任何光学元件。各种各样的分束器适用于整个光谱范围,如KBr, CaF2,石英,多层,聚酯薄膜和硅固态BMS。

MultiTectTM技术允许5个室温或热稳定探测器,如DTGS, InGaAs, Si二极管和GaP。此外,DigiTectTM槽允许使用例如LN2冷却探测器。的MultiTectTM单元是软件控制,并提供自动访问FIR,近红外和VIS/UV测量。

随时升级功能

如果您的分析需求发生变化,需要新的光谱功能,INVENIO的每个可选功能也可以在以后进行改装。

充分的采样灵活性

改进的QuickLock附件安装在前面的锁和释放按钮,便于插入和固定也笨重的样品设备。此外,INVENIO还可为多个外部模块配备3个软件可选出口端口:

  • HYPERION系列FT-IR显微镜
  • 微观和宏观FPA成像技术
  • RAM II FT-RamanPL II光致发光模块
  • TGA-FT-IR耦合
  • PMA 50, VCD和PM-IRRAS偏振调制附件
  • 可变外部样品室(左右)定制实验
  • 用于固体和液体的光纤探头的光纤耦合单元
  • 外积分球
  • 液体自动采样器
  • HTS-XT,高通量筛选扩展
  • 空气-水界面反射单元
  • 还有更多

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OPUS发布8.7 | INVENIO | Q3 2021

新功能:OVP-X(增强OPUS验证程序)

在OPUS 8.7中,OVP- x继承了INVENIO FT-IR光谱仪当前的OVP例程。OVP-X负责INVENIO光谱仪的校准、测试和鉴定。它为所有INVENIO测量渠道提供全面、可靠和简便的校准和认证管理。

  • 更快,更容易设置新的附件和扩展
  • 半自动设置测量通道,提高生产效率

新功能:Python脚本接口实现到OPUS

现在可以直接在OPUS中创建和执行Python脚本,并开发基于用户的方法。这允许用户基于Python创建自己的计算例程。由于Python在工业和科学领域被广泛接受为编程标准,这为用户提供了对其分析工具集的高级控制。

  • 直接在光谱仪软件OPUS中创建和运行Python脚本
  • 开发应用程序专用评估例程,并在OPUS中使用它们

新功能:多光谱距离测量功能

本机OPUS功能,用于高度自动化的多光谱范围测量,利用INVENIO独特的MultiTect技术和可选的积分干涉仪与自动分束转换器。实现从FIR到UV/VIS区域的全自动测量,可选择合并成一个最终光谱。该软件功能也可用于VERTEX光谱仪。

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