布鲁克3D x射线显微镜(XRM)将微型计算机断层扫描(micro-ct)硬件与专业软件结合在一起,形成一个完整的微观可视化解决方案。从微分辨率的工作台到纳米分辨率的地面站立式仪器,Bruker XRM解决方案提供了易用性和功率的完美平衡。
从测量地质样品中的孔隙度到药片上多个涂层的厚度或电路的片上和板级互连结构,XRM允许快速多尺度分析。XRM的非破坏性性质允许验证组件完整性,将制造技术的QC(如增材制造)提高到一个新的水平。
Bruker的软件为技术人员和新手研究人员提供了简单的按钮界面,并为希望突破样品和技术界限的专家提供了异常深入的信息。重建是用最新的GPU驱动算法完成的,可以在很短的时间内从大型数据集中提供结果。所包含的分析包允许定性可视化和定量回归。
规范 |
SKYSCAN 1275 |
Skyscan 1272 cmos |
SKYSCAN 1273 |
SKYSCAN 2214 |
外形尺寸(宽×深×高,mm) |
1040 x 665 x 400 |
1160 x 520 x 330 |
1250 x 820 x 815 |
1800 x 950 x 1680 |
重量(不含可选电子设备) |
170公斤 |
150公斤 |
400公斤 |
1500公斤 |
源 |
40 - 100千伏 |
40 - 100千伏 |
40 - 130千伏 |
20 - 160千伏 |
探测器 |
3mp平板 |
11mp CCD 16mp CCD 16mp CMOS |
6mp平板 |
6mp平板 11mp大CCD 11mp中位CCD 8mp高分辨率CCD |
最大样本量(直径,高度) |
96毫米,120毫米 |
75毫米,80毫米 |
300毫米,500毫米 |
300毫米,400毫米 |
最小分辨率(体素,空间) |
<4µm, <8µm |
<0.45 μ m, <5 μ m |
<3µm, <6µm |
60 nm, <500 nm |
测量,重建和分析软件 |
包括 |
包括 |
包括 |
包括 |