DataCube模式
Nanoelectrical特征的完整的解决方案
DataCube模式扩展功能,如PeakForce金枪鱼和PeakForce KPFM,通过启用多维数据立方体的收购。对于材料雷竞技网页版科学家和工程师,这打破了长期效率和表征的障碍。这些新功能提供同步捕获纳米机电特性在高密度数据立方体,以前不可能实现在一个单一的测量。
相关的多维电子能谱
DataCube模式使用FASTForce体积在每个像素执行force-distance谱,一个用户定义的“停留时间”。使用数据捕获率高,大量的电子测量在停留时间执行,导致机电在每个像素光谱。典型force-distance光谱,测量速度斜坡40 Hz的每像素100 ms的停留时间,提供完整的描述在一个实验中,在商业AFM是闻所未闻的。它不再是一个史诗般的实验同时渲染地形,机械,和多维电子信息。现在这些数据可以作为常规AFM测量来实现。DataCube模式呈现多维数据立方体在纳米尺度复合数据在每一个扫描。这种能力使一个强大的一系列新模式。
DataCube-TUNA (DCUBE-TUNA)
导电AFM结果受到样本应用电压的影响,描述材料或设备的重要性能转换。DCUBE-TUNA使同步采集信息和导电性纳米机械的大量样本电压在一个单一的测量,构建一个密集的数据样本信息的多维数据集。这是唯一的模式提供了一个完整的样品电导率,电导率等细节类型(非欧姆电阻,肖特基等),和势垒高度。
DataCube-SCM (DCUBE-SCM)
扫描电容显微术(SCM)提供一种方法直接测量的活性载体浓度与纳米级精度。DCUBE-SCM允许同时收购纳米机械和航空公司信息在大量的样本电压在一个单一的测量。这项技术提供了一个独特的解决方案观察dC / dV振幅和直流/ dV相位值变化和结位置变化。研究员通过结果数据立方体,可以观察到额外的信息在氧化厚度、氧化指控,阈值电压,从移动离子污染,界面陷阱密度。
DataCube-PFM (DCUBE-PFM)
Piezoresponse (Piezoforce)显微镜(PFM)技术映射的逆压电效应在纳米样本规模。DCUBE-PFM使纳米机械信息的同步采集和PFM幅度/相位谱数据立方体,这揭示了每个域的转换电压在一个数据集。此外,DCUBE-PFM克服工件,样品损坏,和数据分析的复杂性与传统有关联系方式方法。
DataCube-CR-PFM (DCUBE-CR-PFM)
DCUBE piezoresponse (piezoforce)显微镜结合接触共振提供的好处DCUBE-PFM的好处提供每个像素的频率增加,提供完整的光谱和共振峰灵敏度的联系。
DataCube-SSRM (DCUBE-SSRM)
扫描扩散阻力显微镜(SSRM)用于地图掺杂半导体的多数载流子浓度的变化。DCUBE-SSRM使纳米机械信息的同步采集和3 d载体密度映射在一个单一的测量。结果数据立方体提供完整的描述包括纳米地形、机械和log-resistance光谱信息。此外,电流-电压测量显示电导率是否欧姆,非欧姆,肖特基,或其他。
DataCube-sMIM (DCUBE-sMIM)
扫描微波显微镜成像(sMIM)提供了地图的电容(C)和电阻(R)阻抗的一部分,以及直流/ dV,博士/ dV数据——在一个用户定义的示例电压。与DCUBE-sMIM可以获得相同的属性在不同的样本电压,在一个单一的扫描,得到“全貌”。光谱也显示额外的信息,如导电型(非欧姆电阻,肖特基等),氧化层厚度、氧化指控,从移动离子污染,界面陷阱密度。
