侧向力显微镜(LFM)
摩擦信息与易于接触模式成像
横向力显微镜(LFM)是由联系方式成像。在接触模式下，悬臂探头在扫描表面时测量垂直弯曲。通过测量悬臂的横向弯曲，可以确定样品的表面摩擦特性的信息。
横向力可以由试样表面某一区域摩擦系数的变化或高度的变化引起。因此，线性调频在测量表面材料的不均匀性和生成具有增强地形特征边缘的图像时非常有用。雷竞技网页版
由后二酸(BA)和二苯双(十八胺氨基)溴化膦(DPOP)的混合物制成的Langmuir-Blodgett单层薄膜。
