PeakForce KPFM
行业领先的空间分辨率和无伪影的潜在对比
PeakForce KPFM™通过提供最高的空间分辨率和最精确的表面电位测量，提高了传统KPFM技术的测量性能。这些改进都是通过新技术的结合实现的PeakForce攻®模式，扫描算法和布鲁克独特的内部探头开发。
独特的是，PeakForce KPFM提供了最准确的探头对探头表面电位测量，实现了不同材料类型的一致测量。它可以与PeakForce攻丝QNM®在广泛的样品上同时提供高度相关的纳米尺度地形，电气和机械性能映射。通过在ScanAsyst中操作，PeakForce KPFM还克服了传统KPFM技术的显著易用性问题®模式，使所有经验级别的用户都能获得专家质量的数据。
PeakForce KPFM提供:
- 最精确、可重复、灵敏的功函数测量
- 领先的空间分辨率与无伪影势对比相结合
- 相关定量纳米力学性质映射
在ITO衬底上的MDMO-PCBM块异质结太阳能电池在黑暗(下半部分)和在相当于300个太阳强度的照明(上半部分)下的PeakForce KPFM电位图。(样本由蒙斯大学菲利普·勒克莱尔博士提供)
