Innova-IRIS结合行业领先的性能和Bruker-exclusive AFM探针提供世界上唯一的完整过程中的参数,保证tip-enhanced拉曼光谱(参数)的解决方案。它在不知不觉中英国inVia台系统在充分保留每个单独的组件的功能。结果是一个富有成效的和完全集成平台相关的微纳米级属性映射扩展的边界AFM nanospectroscopy和nanochemical分析应用程序。
出版记录证明,一个离轴反射几何是最大化的光捕获的最佳解决方案在充分占tip-shadowing和极化的影响。Innova-IRIS利用一种新型光学架构访问tip-sample结的正面探针提供一个理想的光路无障碍物。力量的协同设计集成英诺华sample-scanning AFM与英国inVia台系统唯一保留了光学扫描期间“热点”对齐,使集成成像过程中的参数的严格要求。提示保留完整和定位在长时间信号集成所需如此敏感的研究。
Innova-IRIS集成与英国inVia完全保留了毋庸置疑的性能,功能和灵活性的AFM和拉曼显微镜。每个利用自己的全功能的实时控制和数据分析包。结果是一个综合系统,使相关补充纳米地形,热,电气和机械的信息。