contourx - 100
流线型和负担得起的台式粗糙度计量
突出了
contourx - 100
ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格点为精确和可重复的非接触式表面测量设定了新的基准。该系统占地面积小，集成了布鲁克白光干涉测量技术(WLI)几十年的专利技术，以精简的封装提供了不妥协的2D/3D高分辨率测量功能。下一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的工作台，以实现更大的拼接能力，以及新的测量模式USI，为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供更大的便利性和灵活性。您将找不到比ContourX-100更有价值的台式系统。
业内
Z的决议
提供恒定，精确的测量，独立于放大倍率。
无与伦比的
计量值
在不影响测量功能的情况下提供流线型设计。
用户友好的
软件界面
提供对预编程过滤器和分析的广泛库的直观访问。
特性
无与伦比的计量
WLI为所有目标提供恒定和最终的垂直分辨率。
ContourX-100轮廓仪是40多年专有光学创新的结晶，是非接触式表面测量、表征和成像领域的行业领先地位。该系统利用3D WLI和2D成像技术，在一次采集中进行多项分析。ContourX-100在反射率从0.05%到100%的所有表面情况下都具有鲁棒性。
不匹配的价值与分析
ContourX-100手动阶段。
通过数以千计的定制分析和Bruker简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面，ContourX-100台式电脑优化了实验室和工厂车间的生产力。硬件和软件相结合，提供了对顶级高通量光学性能的简化访问，完全超过了可比的计量技术。
