contourx - 200
用于表面纹理测量的柔性工作台
突出了
contourx - 200
ContourX-200光学轮廓仪提供了先进的表征，可定制的选项，以及最佳的快速，准确，可重复的非接触式3D表面测量的易用性的完美融合。测量能力强，占地面积小的系统使用更大的FOV 5 MP数码相机和新的电动XY平台，提供不妥协的2D/3D高分辨率测量功能。拥有无与伦比的z轴分辨率和精度，ContourX-200提供了Bruker专有白光干涉测量(WLI)技术的所有行业公认优势，没有传统共聚焦显微镜和竞争对手的标准光学轮廓仪的限制。
自动化
功能
启用例程以实现更快的测量和分析。
机动化的
XY阶段
为定量计量提供低噪声、高速运行。
Vibration-tolerant
紧凑的设计
提供测量稳定性和可测量的重复性。
特性
不妥协，一流的计量
ContourX-200光学轮廓仪建立在超过40年的专有WLI创新之上，具有低噪声，高速，准确和精确的结果，满足了定量计量的要求。通过使用多目标和集成特征识别，可以在各种视场和亚纳米垂直分辨率下跟踪特征，为不同行业的质量控制和过程监控应用提供不受尺度影响的结果。ContourX-200在反射率从0.05%到100%的所有表面情况下都具有鲁棒性。新的硬件功能包括具有更大拼接能力的创新舞台设计和具有1200x1000测量阵列的5MP相机，以实现更低的噪声、更大的视野和更高的横向分辨率。
WLI为所有目标提供恒定和最终的垂直分辨率。
最广泛的应用分析能力
ContourX-200电动舞台。
利用强大的VisionXpress和Vision64用户界面，ContourX-200为实验室和工厂车间的生产力提供数千种定制分析。Bruker的新型通用扫描干涉测量(USI)测量模式提供了全自动、自感知的表面纹理，优化了信号处理，同时提供了最准确、最真实的表面形貌分析计算。系统的新摄像头提供了更大的FOV，新的电动XY工作台提供了灵活性，为广泛的样品和零件提供了更大的灵活性和更高的吞吐量。硬件和软件相结合，提供了顶级光学性能的精简访问，完全超过了可比的计量能力。
