ContourX-500光学轮廓仪是世界上最全面的快速、非接触式3D表面测量自动化台式系统。可测量的ContourX-500拥有无与伦比的z轴分辨率和精度,并在更小的占地面积内提供Bruker白光干涉测量(WLI)落地式模型的所有行业公认优势。轮廓仪可以轻松地为最广泛的复杂应用定制,从精密加工表面和半导体工艺的QA/QC测量到眼科和MEMS设备的研发表征。
Bruker专有的顶部倾斜/倾斜为生产设置和检查提供了无与伦比的用户灵活性。通过将自动尖端/倾斜功能与显微镜头中的光学路径耦合,布鲁克已经将检查点与独立于倾斜的视线耦合在一起。这减少了操作员的干预,提供了最大的重现性。其他硬件功能包括具有更大拼接能力的创新舞台设计和具有1200x1000测量阵列的5MP相机,以降低噪声,更大的视场和更高的横向分辨率。这些功能与自动化登台和目标的结合,使ContourX-500非常适合“按需测量”的研发和工业计量,所有这些都在紧凑的占地面积内。
通过数以千计的定制分析和Bruker的简单易用,但功能强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面,ContourX-500优化了实验室和工厂车间的生产力。Bruker的新型通用扫描干涉测量(USI)测量模式提供了全自动、自感知的表面纹理,优化了信号处理,同时提供了最准确、最真实的表面形貌分析计算。