Hysitronπ85 e
扩展范围原位纳米机械扫描电子显微镜检测仪器
突出了
Hysitronπ85 e SEM PicoIndenter
Hysitronπ85 e SEM PicoIndenter原位力学测试的范围延伸,连接纳米尺度和微尺度表征之间的差距。这depth-sensing纳米机械测试系统是专门设计来利用先进的成像能力的扫描电子显微镜(SEM、FIB / SEM, PFIB)同时进行定量纳米机械测试。其扩展力使研究人员能够准确地测试在尺寸上大范围和/或硬结构要求更大的负荷诱发失败和/或骨折。π85 e仪器提供缩进,压缩,紧张和疲劳测试在整个材料光谱(从金属和合金陶瓷、复合材料和半导体材料)。雷竞技网页版π85 e的紧凑,低调的架构使其非常适合小房间扫描电镜、拉曼光谱和光学显微镜,beamlines等等。
模块化
套核心测试技术
支持nanoindentation、压缩、紧张、疲劳、PTP, E-PTP和电气特性。
至关重要的
扫描电镜配件
使可靠测量技术员和操作员在多用户设备。
扩展
力范围
提供了高和低负载位移功能测试高强度和按照样本。
特性
Nanoindentation:高精度原位力学测试
描述硬度、蠕变、应力松弛、弹性模量、断裂touhgness近地表特性,接口、局部微观结构和薄膜。
行为与扩展范围探索
碳纳米管(CNT)结构的变形。
Hysitronπ85 e包含多种测试模式描述基本力学性能、应力-应变行为、刚度、断裂韧性和变形机制在一个广泛的样本。除了力量的行业标准测试传感器,π85 e提供更高的负载(250 mN)和大位移(150µm)功能。宽带换能器和挠曲与先进控制电子完全优化大规模样本测试和提供特殊性能和灵敏度。
描述一个,两个,三维纳米结构
变形的氧化锌纳米线安装在E-PTP。
Hysitronπ85 e系统使用专利做(PTP)设备描述一维结构,如纳米线、纳米管和二维结构,如独立的薄膜。这些结构特征也可以电仪器的可选电做设备。π的大位移范围85 e也适合测试三维晶格变形更大的压力。
