Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter利用扫描电子显微镜(SEM, FIBSEM, PFIB)的先进成像功能,使得在同时成像的同时进行定量纳米力学测试成为可能。PI 89进一步推进了布鲁克市场领先的电容式传感器技术,实现了第一个商业化的原位SEM纳米力学平台。启用的测试技术包括纳米压痕、拉伸测试、支柱压缩、颗粒压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和机械性能映射。
Hysitron PI 89的紧凑设计允许最大的级倾斜和最小的工作距离,以实现测试期间的最佳成像。PI 89为研究人员提供了比竞争系统更大的通用性和性能:
Hysitron PI 89采用Bruker专有的亚纳米灵敏度传感器和压电驱动柔性,用于本质位移控制和负载控制测试:
Hysitron PI 89获得的原位力学数据与SEM成像同步并并排显示。这使您可以看到缺陷、机械应变以及热或电刺激对工程材料性能、寿命和耐久性的影响——从纳米到微米尺度。雷竞技网页版这种同步可以提供更大范围的分析:
Hysitron PI 89的模块化设计支持全套创新的原位测试技术和两个旋转和倾斜工作台配置,用于高级成像和FIB铣削。
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