在过去年空间解决x射线荧光分析技术已经成为了越来越多的支持人员的工作领域的艺术和保护。Micro-XRF已经成为一种工具快速的可视化的艺术作品。因为它可以用于测量大样本,在艺术领域和保护技术也称为MAXRF (macro-XRF)。
业绩改善,在可用性是由信号处理电子产品以及polycapillary光学和探测器技术。然而,提取数据处理工具的发展和评估信息取得了最大的进展。
力量的M6的地方结合高空间分辨率与最先进的技术和强大的分析工具对定性数据评估。在这次研讨会,我们将集中在不同的工具构建的软件授权用户以多种方式方法数据评估。
这些工具,其中包括有:
研讨会将圆了一个15分钟的问答环节,我们的专家会回答你的问题。
罗尔德·Tagle博士
高级应用科学家micro-XRF力量纳米分析
马克斯Buegler博士
应用科学家Micro-XRF力量纳米分析
福尔克莱因哈特
高级应用科学家micro-XRF力量纳米分析
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