sem扩展Micro-XRF能力
即时会议-66分钟
微分析进步
存在数组不同的分析技术从代表单矿相的小区获取地球化学信息最常用分析技术基于电子波束源,即电子探微分析器或带分能分光度计SEMSEM-EDS)
微反射频分析可视之为电子波束推理辅助技术,它也提供小面积样本信息mic-XRF基础光子提取器样本将直接用X光片(X-Ray-BAM)促动,与传统e-BAM系统相比,X光片与e-BAM系统有明显差异。现代X射线多毛线光学可用性使X射线聚焦小于30微米并全部包含X跟踪XRF源可安装SEM端口(图1)。产生显微镜系统双波束即电子波束和X光波束因此,有可能使用类似参数电子波束系统操作微XRF系统,从而产生与传统点SEM-EDS分析相似的结果,同时从X光束样本交互获取额外资料
电子波束和X光束技术都有隐式优缺点,特别是在分析量和检测限值以及样本交互方面。网络研讨会用各种地质实例比较这些不同技术的空间分辨率和敏感度分析、线扫描和面积地图(例如:火山标本(图2),曼托克罗提斯和克诺克里斯特斯、流星体、Extroy-Cu矿床等展示Micro-XRF和SEM-EDS如何扩展系统分析能力
网络研讨会结束15分钟a
图1QuANTAX微XRFS安装QEMSCAN
图2EDS元素映射Se和BSE图像火山样本图像下方:用Micro-XRF测量的相同采样区测得Se元素分布
由谁处理
- 地质科学和采矿研究者
- SEM解析领域对微XRF技术感兴趣的科学家
讲演者
Andrew Menzies博士
Catolica del Norte大学(智利)地质科学系
斯提夫博赫姆
SEM和WDS产品管理员微XRF Bruker Nano分析
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