光元素测定SEM使用WDS
即时会议-39分钟
X射线微分析光元素检测量化
光元素检测量化使用X射线微分析与其他元素相比具有挑战性。特别是,在光元素调用时发射的X光片相对较少,这些低能光子很容易吸收。低计数率注册EDS系统传统WDS降低光元分析精度,矩阵校正中的不确定性降低精度
大型固态平行波束光谱仪等QUANTAXWDS特征为高敏感度低X射线能QUANTAXWDS装配多层多维晶体设计高性能低能区域
网络研讨会显示自然和合成样本中光元素测定实例,如矿产品、镜片、钢材和二元复合物webNar系统还将包括Bruker软件套件WDS功能演示ESPRIT.
X射线元素分布图Be和C采样获取环氧树脂
由谁处理
- 业界和学术界使用微分析技术的研究人员
- 每个人处理光元素引人兴趣应用
讲演者
博士迈克尔阿布拉提斯
Sr.应用科学家Bruker Nano分析
博士拉尔夫Terborg
Sr.科学家EDSBrukernao分析
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