DIFRACCIÓN射线X (RDX)

Difractómetros de rayos X

Caracterización不破坏材料(材料性质)La cartera de difracción X de Bruker permite un análisis detallado de cualquier Material, desde La investigación基本的快速性控制de calidad工业，未来的比例和解决方案一个nuestros客户hoy en día。

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La familia D8发现La平台difractómetros de rayos X multipropósito确定组件tecnológicos líderes。Está diseñado para la caracterización estructural de toda la gama de materiales, desde polvos, materiales policristalices hasta películas delgadas epitaxiales de varias capas。

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Familia D8 ADVANCE

La familia D8 ADVANCE es un sistema modular total可扩展que aborda las必需品analíticas de muestras de polvo, a granel y película delgada, en didiciones ambientales y no ambientales。

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D2移相器

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El mejor difractómetro de sobremesa del mondo。x射线衍射，x射线衍射，x射线衍射

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D8努力

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El nuevo D8 ENDEAVOR es un avanzado sistema de difracción de rayos X (XRD) para plicaciones de polvo en la optimización de procesos industriales y control de calidad。一个独立的系统，一个独立的系统，一个独立的系统，一个独立的系统，一个完整的系统，一个完整的系统，一个完整的系统，一个自动化的系统。

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组件达芬奇

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改装，actualización o diversificación:各种组件的伽马alta para la difracción rayos X, como fuentes， ópticas，探测，etapas环境的记忆和没有环境，ayudan一个实现的un seguimiento de las不同的需求analíticas。

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DIFFRAC。套件软件

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DIFFRAC。SUITE™代表一个新平台的软件系统的软件系统的软件平台módulos de软件para facilitar la adquisición y evaluación de datos de difracción de polvo de rayos X。

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布鲁克系统的x射线衍射衍射第二阶段的男性demostración一个不精确的吸引力。我们的体制están彻底的改革。

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