DIFFRAC。LEPTOS

x射线反射率(XRR)提供了垂直样品密度剖面、层厚和界面粗糙度的详细信息。高分辨率x射线衍射(HRXRD)测量样品的晶体结构。掠入射小角散射(GISAXS)用于评价纳米颗粒和孔隙率。残余应力分析研究了大块样品和多晶涂层的应变状态。

与传统的单曲线扫描一样，LEPTOS能够分析高分辨率HRXRD和XRR倒数空间图，GISAXS和XRD²应力帧，HRXRD, XRR和残余应力应用的面积映射。数据是用0-D、1-D还是2-D探测器收集的并不重要。
GUI可以定制，以适应科学研究人员和工业操作人员的需求。

• XRR, HRXRD, GISAXS和RS多项测量的联合评价
• 先进的x射线散射理论和数值方法估计，模拟和拟合的数据在直接和倒数空间
• 通过点、线和二维探测器测量的1维和2维数据集的自然集成处理
• 通用样品模型编辑器参数化任何类型的薄膜和散装样品
• 全面和可扩展的材料数据库，涵盖所有230个晶体空间组
• 区域映射工具，用于显示和评估在大样本区域进行的测量
• 用于一维和二维数据残余应力分析的先进sin²ψ法，以及用于评估多晶涂层应力梯度的倍数(hkl)法

LEPTOS R是为分析薄层结构的x射线反射率(XRR)数据和非镜面漫射散射(DS)而设计的。该模块完全集成在LEPTOS套件中，可以同时分析HRXRD、GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套件的一部分，R模块继承了整个包的所有通用功能。

LEPTOS R在多个国际基准中获得了很高的评价，包括VAMAS项目A10。LEPTOS R的结构符合最新制定的国际rfCIF XRR数据格式标准。

LEPTOS S是一个创新的，强大的和全面的模块，用于分析0D, 1D或2D探测器测量的残余应力，使用经典的sin2ψ和扩展的XRD2方法。该模块完全集成在LEPTOS套件中，并继承了整个包的所有通用功能。