XFlash 6 t-60
的大立体角SDD TEM分析纳米甚至更低
XFlash 6 t-60探测器
中有效面积60毫米2芯片安装在一款超薄的线性检测器的手指提供了一个大立体角起飞和高角度。的XFlash®6 t-60因此适合应用x射线收益率较低,例如原子分辨率光谱法,实验区域轴必须保持和样本不能倾斜,beam-sensitive标本(如石墨烯,生命科学)。探测器也提供很好的能量分辨率与126 Mn KαeV。
总之,XFlash®6 t-60提供了以下优点:
- 好的能量分辨率(126 Mn KαeV, 51电动车在F C Kα和60 eV Kα可用)
- 其他可用分辨率为129 Mn KαeV
- 极高的脉冲负载能力
- 和低能量性能优良的光元素(元素范围是- Am)
- 焊接波纹管作为标准
- 没有vibration-generating冷却系统
- 上电后立即
- 不需维护的操作
- 低运营成本
- 小尺寸,包括款超薄的线性技术的手指
- 低体重
- 没有窗户的版本上可用的请求
建议申请XFlash领域®6 t-60是:
- x射线低收益率应用TEM和阀杆,包括畸变纠正了电子显微镜