电子显微镜分析

QUANTAX改进算法

扫描电镜的波长色散分光法

杰出的光谱分辨率

提高分析的准确度和精密度

洛马斯destacado

~ 4
电动汽车
应用为Si-Kα
优越的能量分辨率超过一个数量级
< 100
ppm
为众多元素检出限
微量元素准确度和精密度高
> 900
cps / nA
计数率与一个80多层C-Kα
高灵敏度,低能量的x射线

补充你的扫描电镜和电子探针微分析仪的好处

  • QUANTAX WDS (WDX) SEM包括XSense波长色散光谱仪产生最好的决议在所有平行光束改进系统。大立体角,由于平行光束设计,导致更高的信号强度为低能x射线而改进算法实现了一个基于罗兰圆的光谱仪。
    • 改进算法的高信噪比的特点是进一步增强了一个独特的二次光学,抑制背景的文物。
      • 配备最好的掠入射光学和六分析仪晶体,QUANTAX WDS有优越的灵敏度低能量的x射线从70 eV向上。
        • 一个巧妙的光学自动对准系统和一个独特的压控正比计数器确保准确和可重复的结果。
          • 灵活适应改进或EDS端口。

          锻炼耐力

          改进算法在SEM分析要求应用程序——一个完美的解决方案

          • 解决常见的EDS高峰重叠,如Ta-W-Si Pb-S或Mo-S
          • 探索低能x射线线系列(L, M, N)感兴趣的元素
          • 检查样品加速电压较低,以确保最小插入深度
          • 获得最高的cps / nA由于立体角较高,使光元素的调查从F在整个浓度范围
          • 确定微量元素浓度远低于极限的检测的EDS
          • 在低真空测量的必要性没有导电涂层
          • 节省时间与一个独特的压控正比计数器测量分析
          • 确保空间精确量化的光谱数据的准确性
          • 节省采购时间同步改进算法和EDS分析了组合中的每个探测器量化的好处