Comparación de AFM-IR y s-SNOM

AFM-IR y s-SNOM son técnicas互补与不同的fortalezas。反对厄尔nanoIR3-s,唱挽歌的人configuración唱挽歌的人técnica我们需要的人medición。AFM- ir直接探测光吸收光或la muestra效用，la punta de la sonda AFM对探测la expansión térmica。Esta expansión térmica依赖的系数的原则absorción de la muestra, ks，这是一个完全独立的解决问题的办法ópticas de la punta y la muestra。看一看，看一看técnica AFM-IR在医学方面的先见之明absorción精确。AFM-IR sobreale por studio de materia blanda debido a la alta expansión térmica de estos materiales。

s-SNOM探测光线分散区域de escala区域nanómetros直接德拉蓬德拉松达AFM。El campo分散的依赖de las complejas constantes ópticas tanto de la punta como de la muestra y contiene información rica清醒fenómenos nanoó ópticos。参考之梦(por ejemplo, oro o silicio)在另一段时间内，必须在另一段时间内，在另一段时间内，必须在另一段时间内，在另一段时间内，必须在另一段时间内，在另一段时间内。可能和必要的相容与模型和解释结果相对应。s-SNOM es una técnica令人信服的与之相反的纳米图像的相互对照ópticas，适用于材料的多样性，与环境/材料的相互作用的基本原理。s-SNOM重要材料功能interactúan我们有光明的未来。